X射線熒光光譜儀

應用情況： 
涂層測厚： 
是理想的離線和在線測厚儀，是美國ASTM金屬基層處理涂層測厚檢驗標準（D5723-95）中唯*儀器。 
可測量鐵基錫層、鋅層及錳層、鋅鐵基鉻層、鋁基氧化鐵層、鉻層等。廣泛應用于各種金屬板材、汽車輪轂、計算機硬盤、硬幣、紙張及塑料薄板等領域。 
探測厚度范圍：0.006-0.05毫米 
元素分析： 
X射線熒光光譜儀可快速準確地分析某一元素的含量，給出用戶所需的任何數值單位。是理想的實驗室、工廠工藝和質量檢測儀器。 
X射線熒光光譜儀通過對某一關鍵元素的測量與控制，可以有效地控制產品質量。如：玻璃制造，對硅砂及成品中鐵元素含量的測量；建筑材料，對聚苯保溫材料中鐵元素含量的測量。鐵元素的含量直接影響上述產品性能。 
可直接用于成型材料的元素分析；如：各種鑄件、管材、棒材、板材等，無須樣品制備。 
是理想的移動實驗室儀器，可裝入中型汽車，配備一臺便攜式發動機，可用于礦山、野外現場元素分析。 
合金鑒別:
可用于黑色及有色金屬的原料及成品的等級分類，是質量控制的有效工具。 
可用于化工廠設備安裝工程，對各類合金管道進行現場分類鑒別，從而避免管道的錯誤安裝。

主要特點：

特點：

元素范圍: Ti-Ag，Ba-U

可測量鉻和鈦預處理 

熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便； 
包括雙位樣品池支架 
可進行在線分析 
可進行多元素順序分析 
分析樣品不被破壞，分析快速，準確，便于自動化； 
包括觸摸屏筆記本電腦 
Windows系統軟件控制