| 應用領域 | 化工,能源,電子/電池 |
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LVEM5是種設計的透射電子顯微鏡，它足夠小，可以放置在任何需要納米成像的地方。這是款出色的成像工具，配備了TEM、SEM和STEM模式，設計用于生成詳細而有意義的圖像結果，其在生物和軟材料樣品成像的對比度無 ·與倫比。LVEM5對任何實驗室工作、科研或納米材料研究都是個巨大的好。
LVEM5易于學習、操作和維護，而且價格只是傳統透射電子顯微鏡成本的小部分。它是個多功能的和功能強大的儀器，適合于任何教室或研究實驗室。
LVEM5應用域
材料學、生物學
LVEM5臺式征參數：
• 小型臺式透射電子顯微鏡（TEM）
• 多用途臺式電子顯微鏡
• 透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式
• 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）
• Schottky場發射電子槍：高亮度、高對比度
• 觀察生物樣品無需染色
• 體積僅為傳統透射電鏡1/10，操作維護簡單
LVEM5透射電子顯微鏡點：
臺式設計：體積小巧，靈活性高，價格低
傳統透射電子顯微鏡體積龐大，對放置環境有著嚴格的要求，并且需要制冷機等外置設備。通常會占據整間實驗室。
Delong America公司的LVEM5從根本上區別于傳統電鏡，尺寸較傳統電鏡縮小了90%，對放置環境無嚴格要求，無需任何外置冷卻設備，可以安裝用戶所需的任意實驗室或辦公室桌面，是目前性價比較高的電子顯微鏡。
Schottky場發射電子槍：高亮度/高對比度
電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數。LVEM5采用殊設計的倒置肖基（Schottky）場發射電子槍，提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達2000小時以上。
傳統TEM多采用100kV以上電子束加速電壓，高能電子束不能區分輕材料中相近的密度和原子序數，對于輕元素樣品（C、N、O樣品，生物樣品）難以獲得好的對比度，影響圖像質量。
LVEM5采用5kV低電壓設計，低電壓電子束對密度和原子序數有很高的靈敏度，對于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對比度。例如，對20nm碳膜樣品，5KV電壓下比100KV電壓下對比度提高10倍以上，而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達到1.5nm。
LVEM5透射電子顯微鏡四種成像模式
TEM模式
LVEM5款臺式透射電子顯微鏡，同時也是5kV低電壓透射電鏡。同傳統透射電鏡（80-200kV）相比，LVEM5增加了電子束與樣品的相互作用，從而：
? 提高了圖像對比度
? 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品（如生物樣品）
? 避免染色造成的假象，觀察樣品真實結構
分辨率2nm，放大倍數 5000-202,000x，圖像采集：2048 x 2048
添加TEM升選件，分辨率提升至1.5nm，放大倍數 50萬倍
SEM模式
掃描電鏡（SEM）模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探測器，提供多個觀測角度。
普通掃描電鏡在觀察不導電樣品時，需要對樣品進行噴金、噴碳處理，以增加樣品導電性。LVEM5的另點在于，無需噴金可直接觀測不導電樣品。
分辨率10nm，放大倍數 640x - 100,000x，圖像采集像素：2048 x 2048
STEM模式
在掃描透射電子顯微鏡（STEM）模式下，電子束被聚焦到很小直徑，在樣品上進行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品。
ED模式
電子衍射（ED）可用于確定樣品的晶體結構、結晶度、相組成。
操作簡單，換樣快捷，成本低
LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設計，使用戶僅需少的培訓，即可輕松操作。讓用戶在使用時更加舒適。
不同于傳統透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時間，LVEM5更換樣品僅需3min，節省大量時間。
LVEM5·次購置費用遠低于傳統電鏡，且在款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能，真正的物超所值。LVEM5*的設計勢，在使用中無需冷卻水，無需業實驗室，維持成本低。
材料學研究的對象多種多樣，其中納米科技是材料學中·前沿的研究域之。LVEM5多功能電子顯微鏡，是探索材料微觀結構的有力武·器。
LVEM5將TEM，SEM，STEM的功能集成體，為研究者提供快速、高質量的圖片。其低廉的價格、便捷的操作，改變了電子顯微鏡價格高昂、操作復雜耗時的情況。
應用案例
■ 透射電子顯微鏡LVEM在病毒學研究中的應用
目前使用的透射電子顯微鏡進行病毒顆粒的檢測和識別仍面臨著巨大的挑戰。這是因為病毒的主要組成部分多為含碳的輕元素有機物，這類樣品很容易被高能電子束穿過，造成其光學襯度較低，且由于共價鍵化合物的低穩定性使得其在傳統電子顯微鏡的高加速電壓 (般為80-200 kV) 下非常不穩定，不適合直接進行觀察。因此病毒的形態學觀察般采用負染色成像技術，需要在觀測前對樣品進行復雜的負染操作，占有大量的時間，且可能會掩蓋掉些病毒的形貌征，造成使用透射電子顯微鏡觀測病毒的門檻較高。
為了解決這難題，透射電子顯微鏡（Low Voltage Electron Microscope, LVEM）應運而生。LVEM突破了傳統透射電子顯微鏡的80 kV加速電壓的·低限，研究人員可在低壓下觀察輕質生物樣品，無需染色，簡化了樣品制備流程；同時該設備可在保證高圖像對比度的前提下，使用溫和的加速電壓進行病毒形態學的檢測和識別，能夠識別以往可能被污漬和負染的瑕疵所掩蓋的病毒征。Delong Instruments公司的LVEM5&LVEM25是類門針對低電壓設計研發出的透射電子顯微鏡。LVEM使用殊設計的倒置式肖基（Schottky）場發射電子槍，提供高亮度高相干性的電子束，這種低能電子束與樣品的相互作用比傳統透射電子顯微鏡中的高能電子要強得多，使得電子被輕質有機材料強烈散射，導致了征的異常分化(Microscopy Research and Technology, DOI: 10.1002/jemt.22428)。在病毒學研究方面，該設備大放大倍數高于通常觀測病毒所需要的大約50，000倍的放大率，且依然保持不錯的分辨率（<2 nm），可滿足病毒形態和結構研究的需求。相比于高電壓，5kV 的加速電壓提供的電子束與樣品的作用更強，對密度和原子序數有更高的靈敏度，對低至0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的樣品圖像對比度，有效提高了輕元素樣品的成像質量，適合針對病毒學的研究。需要指出的是，LVEM25與LVEM5建立在相同的平臺之上，前者在個稍高的加速電壓下工作，在滿足輕元素樣品觀測的要求下可進步提高終的圖像分辨率。
圖1. (A-C) LVEM 5觀察多種非負染的病毒樣品; (D-E) LVEM 5&25 實物圖; (F-H) LVEM 25觀察多種負染后的病毒樣品。 圖片來源于網絡 (www.lv-em.ｃｏｍ)
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測試數據
FeOOH 顆粒(LVEM5-TEM) |
PMMA(LVEM5-TEM) |
金箔(LVEM5-ED) |
碳管膜 |
Ti-Al合金(LVEM5-SEM) |
納米金屬棒(LVEM5-SEM) |
納米顆粒(LVEM25-TEM) |
Polymer(LVEM25-TEM) |
Iron Oxide Nanoparticles |
Graphene |
Carbon Nanotubes |
Hydrogels |
發表文章
1.Comparison between a low voltage benchtop electron microscope and conventional TEM for number size distribution of nearly spheri. Micron 116 (2019) 124–129, DOI:10.1016/j.micron.2018.09.007.
2. Synthesis of nanoscale zero-valent iron loaded chitosan for synergistically enhanced removal of U (VI) based on adsorption. Journal of Colloid and Interface Science, Volume 552, 15 September 2019, Pages 735-743.
3. Nano-ZnOimpairs anti-predation capacity of marine mussels under seawater acidification. Journal of Hazardous M
用戶單位
LVEM5在全球范圍已擁有麻省理工、加州大學伯克分校、喬治亞理工、慕尼黑大學、曼徹斯大學等70多個用戶。異的性能為LVEM5贏得了用戶的片贊譽。
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