| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 鋼鐵/金屬,綜合 |
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XF-A5S是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，內置Intel十核CPU工控電腦，采用Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比高。
產品特點
元素檢測范圍：鉀(19)～鈾(92)
可支持最多30個元素同時計算
可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析
可支持寶石人工/天然分析
鍍層報警、錸鎢檢測報警
分析范圍：
貴金屬：0.010%～99.999%
鍍層：0.002um~80um
液體：10mg/L~200g/L
檢測精度：
貴金屬：±0.03%(9999金)
鍍層：RSD≤2.5%
液體：RSD≤2.5%
檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體
支持多點連續測試，測試效率高
核心部件
探測器：美國AMPTEK定制Si-PIN
探測器面積：6mm2
分辨率：145±5eV
內置工控電腦：Intel i3十核
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鋁
靶材：鎢
焦點：Φ0.5mm
準直器：
XF-A5S：Φ2.0毫米
采購中心
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