徠卡顯微系統(tǒng)（上海）貿(mào)易有限公司
橫截面切片法分析IC芯片的結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分
檢測(cè)樣品：集成電路IC芯片
檢測(cè)項(xiàng)目：結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分
方案概述：從本文中了解如何通過(guò)橫截面分析法對(duì)集成電路 (IC) 芯片等電子元件進(jìn)行有效的結(jié)構(gòu)和元素分析。探索如何通過(guò)研磨系統(tǒng)進(jìn)行銑削、鋸切、磨削和拋光工藝以及用于同時(shí)進(jìn)行目視檢測(cè)和化學(xué)分析的二合一解決方案來(lái)完成的。可針對(duì)電子行業(yè)的各種工作流程和應(yīng)用實(shí)現(xiàn)快速、詳細(xì)的材料分析，包括競(jìng)爭(zhēng)分析、質(zhì)量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研發(fā) (R&D)。
優(yōu)化電子工業(yè)應(yīng)用相關(guān)的先進(jìn)材料分析流程
從本文中了解如何通過(guò)橫截面分析法對(duì)集成電路 (IC) 芯片等電子元件進(jìn)行有效的結(jié)構(gòu)和元素分析。探索如何通過(guò)研磨系統(tǒng)進(jìn)行銑削、鋸切、磨削和拋光工藝以及用于同時(shí)進(jìn)行目視檢測(cè)和化學(xué)分析的二合一解決方案來(lái)完成的。可針對(duì)電子行業(yè)的各種工作流程和應(yīng)用實(shí)現(xiàn)快速、詳細(xì)的材料分析，包括競(jìng)爭(zhēng)分析、質(zhì)量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研發(fā) (R&D)。
對(duì)于電子行業(yè)來(lái)說(shuō)，在對(duì)集成電路 (IC) 芯片等組件進(jìn)行 QC（質(zhì)量控制）、故障分析、R&D（研究與開(kāi)發(fā)）和競(jìng)爭(zhēng)分析時(shí)，有時(shí)需要進(jìn)行破壞性樣品制備。在許多情況下，先制作電子元件的橫截面，然后分析內(nèi)部結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分。
對(duì)于此報(bào)告的詳細(xì)洞察，IC 芯片的橫截面是使用 EM TXP 精研一體機(jī)制備的。使用 EM TXP，可以在顯微鏡和光譜檢查之前對(duì)樣品進(jìn)行機(jī)械銑削、鋸切、研磨和拋光。然后使用 DM6 M LIBS 2合1 材料分析解決方案分析芯片橫截面的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分。 DM6 M LIBS 結(jié)合了高分辨率光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS)，可以同時(shí)進(jìn)行目視檢測(cè)和化學(xué)分析。
所呈現(xiàn)的結(jié)果顯示了如何使用 EM TXP 和 DM6 M LIBS 解決方案實(shí)現(xiàn) IC 芯片橫截面先進(jìn)材料分析的高效整體工作流程。相同的工作流程和解決方案也可以應(yīng)用于其他電子元件。
學(xué)習(xí)要點(diǎn)
本文為用戶提供：
-
有關(guān) IC 芯片橫截面的目視和化學(xué)分析的工作流程的分步指南
-
使用目研磨系統(tǒng)快速、可靠地制備芯片橫截面樣品的技巧
-
高效可靠的芯片橫截面目視和化學(xué)分析示例
-
有關(guān)電子元件先進(jìn)材料分析的有用出版物的參考
立即下載應(yīng)用筆記吧
相關(guān)產(chǎn)品清單
溫馨提示：
1.本網(wǎng)展示的解決方案僅供學(xué)習(xí)、研究之用，版權(quán)歸屬此方案的提供者，未經(jīng)授權(quán)，不得轉(zhuǎn)載、發(fā)行、匯編或網(wǎng)絡(luò)傳播等。
2.如您有上述相關(guān)需求，請(qǐng)務(wù)必先獲得方案提供者的授權(quán)。
3.此解決方案為企業(yè)發(fā)布，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由上傳企業(yè)負(fù)責(zé)，化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
最新解決方案
- TRILOS連續(xù)分散均質(zhì)機(jī)在增反射鈦白粉陶瓷釉料制備中的應(yīng)用
- 鋼研納克SparkCCD7000型火花直讀光譜儀測(cè)定金屬絲中多種元素
- 不同的分散均質(zhì)設(shè)備在光功能電子陶瓷材料制備中的應(yīng)用
- TRILOS連續(xù)分散均質(zhì)機(jī)在材料領(lǐng)域的應(yīng)用
- 真空干燥箱在精密陶瓷粉末成型工藝中的應(yīng)用與優(yōu)化實(shí)驗(yàn)
- 卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀測(cè)定水霧化鐵粉中的水分
- TRILOS超高壓納米均質(zhì)機(jī)在電子漿料分散處理中的優(yōu)勢(shì)
- TIC-680 離子色譜儀測(cè)試塑膠粒子中的氟、氯、溴
- 合金雜質(zhì)元素控制，ICP-OES助力鋁合金多元素測(cè)定
- ICP-OES多元素快速分析，鎂合金中的10種元素含量測(cè)試
該企業(yè)的其他方案
- 免費(fèi)下載病例研究《術(shù)中OCT光學(xué)相干斷層掃描輔助基因治療》
- 免費(fèi)下載案例研究《術(shù)中OCT輔助處理脫位性白內(nèi)障閉角》
- 免費(fèi)下載案例研究《術(shù)中OCT輔助青光眼結(jié)膜下引流管修訂》
- 術(shù)中OCT光學(xué)相干斷層掃描輔助角膜移植手術(shù)
- 術(shù)中OCT光學(xué)相干斷層掃描輔助的兒科基因治療
- 術(shù)中OCT輔助角膜移植
- 術(shù)中OCT光學(xué)相干斷層掃描輔助 Leber 先天性黃斑變性黃斑修復(fù)術(shù)
- 增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)如何改變神經(jīng)外科學(xué)
- 案例研究：GLOW800 增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)在煙霧病治療中的應(yīng)用
- 手術(shù)室護(hù)士操作指南：使用手術(shù)顯微鏡進(jìn)行微創(chuàng)手術(shù)
業(yè)界頭條
- 光學(xué)輪廓儀中標(biāo)結(jié)果公告
-
項(xiàng)目名稱(chēng)：復(fù)旦大學(xué)寧波研究院寬禁帶半導(dǎo)體材料與功率器件研究所熔融堆積快速成型機(jī)等設(shè)備采購(gòu)項(xiàng)目,項(xiàng)目編...
- 掃描探針顯微鏡中標(biāo)結(jié)果公告
- 預(yù)算200萬(wàn)元 大連理工大學(xué)采購(gòu)電子萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)
- 預(yù)算220萬(wàn)元 武漢理工大學(xué)采購(gòu)實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備
- 預(yù)算885萬(wàn)元 廣東工業(yè)大學(xué)采購(gòu)掃描電子顯微鏡等設(shè)備
- 新技術(shù)“以柔克剛” 天津大學(xué)團(tuán)隊(duì)解決微型LED晶圓無(wú)損測(cè)試技術(shù)難題
- 打破同類(lèi)催化劑單次生產(chǎn)效率記錄 科學(xué)家成功利用二氧化碳合成對(duì)二甲苯
- 浙江出臺(tái)方案：構(gòu)建具有國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力的磁性材料產(chǎn)業(yè)現(xiàn)代先進(jìn)測(cè)量體系
