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關于X射線熒光鍍層測厚儀產品的應用闡述
XRF指X射線熒光，是一種識別樣品中元素類型和數量的技術。用于在整個電鍍行業范圍內驗證鍍層的厚度和成分。其基本的無損性質，加上快速測量和結構緊湊的臺式儀器等優點，能實現現場分析并立即得到結果。
對于鍍層分析，XRF鍍層測厚儀將此信息轉換為厚度測量值。在進行測量時，X射線管產生的高能量x射線通過光圈聚集，并照射在樣品非常小的區域（該區域的大小為光斑尺寸）。這些X射線與光斑內元素的原子相互作用。
XRF鍍層測厚儀相機幫助用戶準確定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以準確定位需要測量的區域。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣品臺上。快速或慢速移動對于找到測試位置很重要，隨后聚焦于準確的區域進行測量。工作臺移動的精準度是帶來測試定位準確的一個因素，并進提升儀器的整體準確度。
特點：
適應性設計，可對各種產品進行可靠分析
自動對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測量和導出數據變得容易
多準直器設計為每個樣品提供高準確性
選擇適合應用的比例計數器或硅漂移檢測器 (SDD)
符合行業規范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
光學分析單層和多層鍍層，包括合金層
簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內提供結果