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日立分析儀器（上海）有限公司

2019
10-24

比例計數(shù)器與SDD：XRF探測器類型是否重要？
通常，XRF分析儀配有兩種探測器類型中的一種：比例計數(shù)器或半導體探測器。在半導體器件中，硅漂移探測器-或稱SDD-通常被視為是佳選擇。如果您的儀器有一個比例計數(shù)器，則您可能對分析儀性能感到非常滿意；對...
2019
10-24

您是否需要檢查碳鋼中的硼？
硼是一種具有巨大影響的輕量元素。作為人體必需的礦物質，硼被添加至許多材料中以改變其特性。在這篇文章中，我們研究了碳鋼中硼所產(chǎn)生的影響，硼的存在可能是把雙刃劍。硼所帶來的益處向鋼中添加硼主要對其淬硬性有...
2019
10-23

X射線熒光光譜儀的探測器應該如何選擇
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X射線熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測...
2019
10-10

對比分析兩種常見的X射線熒光光譜儀的區(qū)別
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。...
2019
09-26

X-Strata920深受Raviraj Process Controls客戶的信賴
“憑借日立分析儀器團隊的專業(yè)知識和指導，我們能充分發(fā)揮儀器的功能和優(yōu)勢并利用技術。”客戶滿意度一直是業(yè)界成就的口碑。在當今競爭日益激烈的世界中，制造商需要信任、質量和透明度來保持競爭優(yōu)勢。Ravira...
2019
09-26

我的PMI演講中的五個要點 - 基于風險的檢驗所需要的重要工具
（來自：MahendraNimkar，日立分析儀器業(yè)務經(jīng)理，印度）我近參加在印度舉行的基于風險的檢驗會議，并介紹了材料可靠性鑒定(PMI)對工業(yè)至關重要的原因，以及便攜式解決方案的優(yōu)勢。對于確保設備安...
2019
09-26

汽車行業(yè)朝著更環(huán)保的預處理化學品方向發(fā)展
汽車鍍層市場有著良好的發(fā)展前景，其需求已非常高，到2022年，預計其市場規(guī)模將達到276.9億美元。發(fā)展中國家的汽車銷量增加以及新鍍層技術的出現(xiàn)，可確保鍍層和金屬表面處理過程供應商在未來幾年將獲得大量...
2019
09-17

汽車創(chuàng)新促進對鍍鎂合金的需求
汽車市場一直以來都是一個大型金屬表面處理行業(yè)。這種情況不太可能在短期內(nèi)有所改變-汽車鍍層收入預計到2022年將超過270億美元。然而，汽車行業(yè)正在不斷變化，環(huán)境需求引發(fā)了快速變化和創(chuàng)新，這將對那些向汽...
2019
09-17

可替代ICP的XRF分析
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）是一種高度的分析技術，可檢測樣本中的微量物質。但這項技術極為復雜，必須由專家來完成，并使用需要定期校準和維護的精密設備。盡管ICP測試本身速度很快，但樣本制備難度大...
2019
09-17

XRF與電子封裝小型化的挑戰(zhàn)
當JackKilby在1958年展示個工作中的集成電路時，他的首要任務是將其小型化。1948年，繼晶體管的發(fā)明問世后，計算機不再需要依賴大尺寸、熱效率低的真空管技術。自此集成電路小型化的競賽已經(jīng)拉開序...
2019
09-17

創(chuàng)建光譜測量的測量系統(tǒng)分析（MSA）程序
若測量系統(tǒng)缺乏置信度，則無法確定零件是否符合規(guī)格。無論是測量化學成分還是測量厚度，不合規(guī)格零件均有可能導致返工、報廢、現(xiàn)場故障和可能的聲譽損害。*的質量管理體系（QMS）要求采用測量系統(tǒng)分析（MSA）...
2019
09-17

沒有標準樣品時如何計算測量不確定度
認可的測量不確定度計算方法GUM依賴于提供經(jīng)認證的標準樣品。同樣，標準樣品也可用于找出光譜儀的任何可重復偏移量（平均值的系統(tǒng)偏差）。但當您手頭沒有標準樣品時，您該怎么做？或者是您要進行的測量不在關注區(qū)...
2019
09-17

FT110A鍍層測量分析儀受喜愛的原因是什么？
FT110A是一款XRF臺式光譜儀，專為電鍍行業(yè)的特定需求而設計。像日立分析儀器的其他臺式光譜儀一樣，F(xiàn)T110A使用簡單，采用了高精度X射線熒光技術，并且可以全天候運行。除此之外，F(xiàn)T110A還有一...
2019
09-17

LAB-X5000用于分析發(fā)動機和航空汽油中錳的含量
當前，環(huán)境和經(jīng)濟問題正推動對節(jié)能發(fā)動機的需求。發(fā)動機制造商從給定量的燃料中獲得更多動力的方法之一是將發(fā)動機設計成具有高壓縮比。這意味著燃料在點火時被活塞進一步“擠壓”，理論上的情形至少如此。實際上，如...
2019
08-29

確保您的分析能力超越未來法規(guī)要求
您當前為滿足外部法規(guī)和您自身的內(nèi)部質量政策要求而進行的材料測試在不久的將來可能需要發(fā)生變化。如果您的分析設備現(xiàn)在已經(jīng)足夠好，則其很可能在12個月之后變得過時。因此，您如何確保您投資的設備能勝任長達幾年...
2019
08-29

如何為您的鍍層工藝計算佳測量時間
獲得合適的金屬鍍層厚度至關重要。若鍍層太薄，則其不能起到保護底層基材的作用；若鍍層太厚，則成本太高，或者部件不適合它的外殼。XRF分析是*的測量鍍層厚度的方法。這種分析快速、無損且準確率非常高。然而，...
2019
08-29

過可靠、和快速的PMI分析，限制工廠停工時間
如果您是一家提供工廠設備現(xiàn)場測試的第三方測試公司，您將會經(jīng)歷在關鍵停工時間內(nèi)完成大量測試的壓力。延長的停工時間代價高昂，但您需要花費時間以獲得可靠準確的結果。對于現(xiàn)場PMI（材料可靠性鑒定）測試，您如...
2019
08-29

哪些因素會導致測量誤差以及如何減少誤差
當我們用光譜儀進行測量時，我們希望相信所獲得的結果。無論我們測量成分或厚度，無論我們采用XRF、OES或LIBS進行分析，我們都希望所獲得的結果盡可能準確。信任我們的測量結果的步是理解我們對準確性的定...
2019
08-21

為什么t-分布函數(shù)在光譜學測量中至關重要
如需評估測量中的誤差范圍，您可使用基本的統(tǒng)計學方法計算標準偏差，正如我們在這里已討論過的那樣。但即使是對于整個群體中的一個樣本，其估計的標準偏差仍然需要相對大量的測量。在光譜學中，我們通常對一個樣本進...
2019
08-21

防止質量缺陷：PMI QA/QC測試成功案例
我們已經(jīng)談論了很多關于100%PMI（材料可靠性鑒定）測試的趨勢，因為制造商希望在質量方面得到保證，以保護他們的聲譽。隨著金屬合金的供應變得更加復雜，采購材料的實際成分變得越來越不確定。這為公司證明質...

日立分析儀器（上海）有限公司

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