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讓XRF成為決策助手

FT230設計的每個方面都旨在減少完成XRF測量所需的時間。目前，操作員在準備測量和處理結果方面所耗的時間要遠遠多于XRF分析零件的時間。通過智能零件識別功能Find My Part™（查找我的樣品），用戶可自動選擇需要測量的部件、分析程序和報告規則，從而使FT230的用戶體驗（UX）得到極大改善，因此操作員在使用XRF設備方面耗時更少，而將更多時間用于處理分析結果。隨著用戶的工作內容的變化，可輕松快速地對用戶自建機載庫進行擴展，以處理新部件和新程序。

智能至簡的新體驗

作為運行日立全新FT Connect軟件的首款產品，FT230延續了已有軟件SmartLink和X-ray Station的優勢，還增加了新的功能，提高了可用性。FT Connect顛覆了傳統的界面。在傳統軟件中，屏幕的大部分空間都被控件所占據——其中許多控件并不常用，而FT Connect將XRF設備的關鍵部分集中顯示在界面上，呈現超大規模的樣品視圖和清晰的結果，使用戶更容易找到部件來進行分析和查看分析結果。

工業4.0時代的數據處理水平

利用FT Connect靈活的數據處理功能，可按需要得到分析結果。分析結果會顯示在主測量屏幕的醒目位置，方便操作員快速采取行動，同時存儲在機器上供日后查閱。分析結果可以電子表格或綜合JSON格式導出，與CADA、QMS、MES或ERP系統集成。同樣，也可為內部或外部客戶創建定制報告。

儀器維護更簡單

除了一系列確認儀器穩定性的功能（包括常規儀器檢查和校準驗證工具）外，機載診斷程序還為用戶提供了更多關于儀器健康狀況的信息。可通過ExTOPE（日立基于云計算的高級數據管理和存儲服務，可讓用戶即時安全地共享數據）直接與日立的技術支持團隊共享此類數據信息。  

不僅僅包括涂鍍層測量的功能

除了測量涂鍍層的厚度和成分之外，FT230還增加了其他功能。強大的軟件和高分辨率的硅漂移探測器實現了以下功能：（1）篩選部件是否符合受限制材料法規（如RoHS）的規定；（2）分析包括電鍍槽溶液和金屬合金在內的材料的成分，對檢驗來料中的基板和確認化學性質（對處理貴金屬的質量證明中心至關重要）非常有用。

一次就成功

日立的鍍層分析產品經理Matt Kreiner表示：“FT230從根本上改變了操作員與XRF設備的互動方式。幾十年來，XRF的用戶必須記住或查找生產零件的測量方法，以及決定其應用領域（是電鍍鎳/金還是鎳/鈀/金）、測量位置、焦斑尺寸、測量時間和報告條例的方法。即使有些系統可以通過條形碼或二維碼掃描提供部分信息，用戶依然需要做出相關決定。而上述決定可能會出現錯誤，這是制造商無法承受的結果。一旦使用FT230，用戶可將部件裝入樣品艙，運行Find My Part™ （查找我的樣品）程序，儀器便會處理余下的工作。日立在FT230中所設計的一切細節都是為了縮短和簡化XRF設備測量流程中‘設置’這個耗時和復雜的環節。此舉能減少錯誤，讓操作員騰出時間執行能夠增值的任務，并增加了測試量，因此擁有這款XRF設備的用戶可以實現事半功倍的目標。”

從簡單的涂鍍層到有關超小部件的復雜應用領域，日立推出的全系列分析儀——現在包括FT230——旨在從來料檢驗、過程控制到終端質量控制的整個生產過程中能為部件鍍層提供高置信度的測量結果。

· 日立分析儀器簡介

日立分析儀器是日立高新技術集團旗下的一家全球性公司。該公司總部位于英國牛津，在芬蘭、德國和中國有研發和組裝業務，在多個國家有銷售和支持業務。日立分析儀器的產品系列包括：

§ 微焦斑XRF鍍層分析儀：FT230以及FT160、FT110A和X-Strata920可測量單層和多層鍍層（包括合金層）的鍍層厚度，適用于質量控制或過程控制程序以及研究實驗室。

§ 專業RoHS分析儀：日立的EA1400、EA1000AIII、EA6000VX和HM1000A分析儀專為“有害物質限制”分析而設計，快速且易用，其靈活性能確保適應不斷發展的法規規定。

§ 鋰離子電池分析：EA8000A X射線粒子污染物分析儀專用于快速有效地控制鋰離子電池生產的質量。

§ 熱分析：熱分析系列儀器DSC600、DSC200、STA、TMA7100、TMA7300和DMA7100已經過優化，可檢測和顯示超小的反應，同時具有穩定可靠和易用等特點。

§ 手持式分析儀：數以千計的企業使用X-MET8000的精密XRF技術以簡單、快速、無損分析的方式實現合金分析、廢金屬分揀和金屬牌號篩查。Vulcan由LIBS激光技術驅動，可在一秒鐘內識別金屬合金；非常有利于企業處理大量金屬，是超快速分析儀之一。

§ 多功能臺式XRF分析儀：Lab-X5000和X-Supreme8000為石油、木材處理、水泥、礦物、采礦和塑料等多個行業提供高度可靠的質量保證和過程控制。

§ OES金屬分析儀：許多行業使用OE750、PMI-MASTER、FOUNDARY-MASTER和TEST-MASTER系列直讀光譜儀進行高精密度金屬分析。