2022年7月14日，日立科學儀器（北京）有限公司正式面向中國市場推出"UH4150AD+"分光光度計，專業致力于先進工業領域光學元件的分光特性檢測。

分光光度計UH4150AD+

近年來，近紅外相機和傳感器等產品被廣泛應用于先進科技領域，所涉及到的波長范圍（800~1700nm）也是人眼所不能觀察到的。特別是應用于技術需求越來越先進、適用面越來越廣泛的產品。例如：初期用于自動駕駛、智能手機的LiDAR*1遙感技術，后續開發的在黑暗條件下（如夜間）也能拍攝的夜視攝像機、為提高安全性的人臉識別、虹膜和靜脈識別、以及因5G需求不斷增加的光通信等。

隨著光學設備性能的提高，需要能夠滿足高精度測量光學元件光譜特性（如鏡片的吸光度、透射比和反射比等）的儀器。由于大部分光學元件具有帶通功能，即通過光學薄膜或光吸收劑僅傳輸特定波長并切割不需要的波長范圍，為了高精度地實現此功能，需要擴大評價指標之一的測光范圍*2。

分光光度計是一種將光照射到樣品上，測量樣品在不同光束下吸光度和透射比的設備。UH4150AD+（Advanced Spec Plus），延續了測量光學元件光譜特性的經典型號UH4150系列，并且提升了其在近紅外區域光譜特性的測量性能，成為在先端行業很流行的測量光學元件的理想設備。通過推出UH4150AD+，我們進一步豐富了多年來一直保持日本最大**3的分光光度計產品線，并通過提供適合客戶需求的解決方案，為先進工業領域的可持續增長做出貢獻。

UH4150AD+ 的主要特點如下：

1． 支持近紅外區域的測光范圍 7Abs

用于最新相機和傳感器的帶通濾波器含有遮光性能低于 6 Abs（透射率 0.0001%）至 7 Abs（透射率 0.00001%）的光學薄膜。 該產品通過改進低透射率測光時的信號處理，支持近紅外區域的透射率為之前的1/100的7 Abs 的測光范圍。使得即使在以前無法測量的近紅外區域的微弱透射率條件下也能進行高精度測量。

2． 配備全新高靈敏度冷卻型InGaAs半導體檢測器

本次的新產品安裝了更靈敏的冷卻型InGaAs*4半導體檢測器。與之前的型號*5相比，在低透射率下實現有效的低噪聲測量，從而能夠獲得高精度的測量數據。

3．延續平行光束光學系統

由于相機的鏡頭光學系統采用平行光線設計，因此對于光學元件的評價設備來說：入射光的平行度很重要。本產品采用深受好評已久的近似平行光束，確保透射和反射測量的精確入射角，從而實現高精度的反射測量。

日立高新技術集團今后也將繼續以分析技術為基礎，快速響應客戶的先進需求，通過開發和提供專注于客戶個性化和復雜化問題的設備，努力創造社會和環境價值，以創造出專門針對專有領域的解決方案，并擴大業務。

*1 LiDAR：使用近紅外光的遠程傳感技術對近紅外的激光進行脈沖照射，通過不同時間對其反射光進行檢測，將反射光與遠處照射對象的距離等進行3D圖像展示的技術

*2 測光范圍：用吸光度（Abs : Absorbance） 或者光密度（OD : Optical Density）進行表示。增加 1 Abs透過率降低一位數。（0 Abs=透過率100%, 1 Abs=透過率10%, ??? 7 Abs=透過率0.00001%）

*3《2020年科學儀器年鑒》（阿爾安迪公司出版）調查（高端紫外可見分光光度計）

*4 InGaAs：銦/鎵/砷化合物

*5 之前的型號：UH4150AD 紫外可見近紅外分光光度計

*6 PbS：硫化鉛化合物

"UH4150AD+"的規格