在納米科技的微觀世界里，每一個微小的顆粒都蘊含著無限可能。然而，要精準地探索和利用這些納米微粒，就需要一把能夠洞悉其奧秘的“鑰匙”——納米粒度儀。

　　

　　這是一種專門用于測量納米級顆粒尺寸分布和表面性質的儀器，其技術原理、應用及前沿發展備受關注。納米粒度儀主要基于光散射原理，包括靜態光散射（SLS）和動態光散射（DLS）兩種技術。SLS通過測量散射光的強度和角度，可以計算出樣品中粒子的平均粒徑和粒徑分布，適用于粒徑大于100nm的粒子。而DLS則采用動態光散射技術，測量粒子在液體中的布朗運動引起的光強度波動，從而計算出樣品中粒子的大小、聚集狀態和表面電荷等信息，適用于粒徑小于100nm的粒子。

　　

　　在工作原理上，首先利用高能量的激光束照射樣品中的微粒。當光線擊中這些微小的粒子時，光線會以各個角度散射出去。然后，一個或多個探測器收集這些散射光，并將其轉換為電信號。這些信號被傳送到相關軟件中，通過數學算法如傅里葉變換或相關函數分析，計算出微粒的擴散系數，并進一步得到粒徑大小和分布信息。

　　

　　納米粒度儀的特點顯著。它能提供非接觸式的測量方式，不會干擾或破壞樣品本身，確保了測量的準確性和重復性。這種儀器通常具備高靈敏度和寬動態范圍，能夠測量從幾納米到幾千納米的微粒。此外，現代的納米粒度儀還支持自動化操作和數據分析，提高了測試效率。

　　

　　納米粒度儀的應用范圍廣泛，在藥物開發、生物醫學研究、化工生產、環境監測等領域都有重要應用。在制藥行業中，它用于監測藥物載體的粒度，以確保藥物的吸收率和穩定性；在半導體行業，它用于檢測和控制芯片制造過程中的微粒污染。在納米材料領域，它可以用于研究金屬納米粒子、納米薄膜、納米復合材料等的粒度和分布情況，為納米材料的制備和性能優化提供依據。