本文闡述了如何使用光學顯微鏡和激光誘導擊穿光譜（LIBS）相結合的二合一方法識別制藥行業中的微粒污染物。藥物和靜脈注射溶液等藥品的微粒污染可能會導致嚴重問題。為消除藥品微粒污染，最重要的是能夠快速、準確地識別污染，甚至能夠快速找到污染源。激光誘導擊穿光譜可以對材料進行快速的多元素分析。本文介紹的二合一方法可以同時提供目視檢查（顏色和形狀）和化學（成分）分析，可快速、可靠地識別非監管環境中的微粒污染物。本文討論的解決方案還可以用于制藥工業的污染物識別和根本原因分析。
微粒污染識別可以分為幾個步驟。第一步是用光學顯微鏡進行目視檢查，以確定微粒的大小、形狀、顯微結構和顏色，并對它們進行計數。下一步是對微粒進行化學分析，以確定成分，更容易找到微粒來源（根本原因分析）。微粒化學分析通常使用SEM/EDS進行，然而，SEM/EDS需要將樣品轉移到真空室將污染微粒分離出來，成本高昂、耗時長。二合一方法對微粒的目視檢查和化學分析更有效（見圖1）。
圖1：二合一方法以及SEM/EDS的根本原因分析流程比較。二合一方法不需要額外進行樣品制備，也不需要使用多臺儀器，分析在空氣中進行，而不需要在真空中進行，目視檢查和化學分析更快。
使用二合一解決方案，如徠卡顯微系統的 DM6 M LIBS，比SEM/EDS更具優勢（圖1）。例如，使用LIBS元素分析可以看到微粒的真實顏色，從而快速有效地確定污染源。當僅憑目視檢查還不夠時，用戶可以根據LIBS光譜中的光譜指紋和特征信號來識別微粒。因此，LIBS可以提供與藥品微粒污染相關的有用元素信息。
僅進行目視檢查時，不同金屬微粒（高合金或低合金鋼、鋁合金等）的外觀非常相似，有時很難確定微粒污染源。在這種情況下，對微粒進行瞬時成分分析將極有助于有效找到微粒來源，從而有效減少藥品中的污染物。然而，如上所述，使用SEM/EDS進行成分分析，過程緩慢、繁瑣。
使用二合一解決方案，如徠卡顯微系統的 DM6 M LIBS，比SEM/EDS更具優勢（圖1）。例如，使用LIBS元素分析可以看到微粒的真實顏色，從而快速有效地確定污染源。當僅憑目視檢查還不夠時，用戶可以根據LIBS光譜中的光譜指紋和特征信號來識別微粒。因此，LIBS可以提供與藥品微粒污染相關的有用元素信息。
在下圖2A-E中，用光學顯微鏡對不同材料組成的微粒進行成像，并使用 DM6 M LIBS 二合一方法用LIBS進行分析。
圖2A：可能來自容器蓋的鋁（Al）合金微粒
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