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近紅外光譜分析儀測試原理和產品優勢詳解
近紅外光譜分析儀是一款高性能的光譜分析儀。主要針對通信波段進行精確測量，適用于光纖激光器，光纖傳感，空間光通信，以及光器件波長損耗特性的光譜測試。
近紅外光譜分析儀的原理：
近紅外光是介于可見光和中紅外光之間的電磁波，定義的近紅外光譜區的波長范圍，習慣上又將近紅外區劃分為近紅外短波和近紅外長波兩個區域。分析儀主要是由于分子振動的非諧振性使分子振動從基態向高能級躍遷時產生的，記錄的主要是含氫基團X-H振動的倍頻和合頻吸收。不同團或同一基團在不同化學環境中的近紅外吸收波長與強度都有明顯差別，NIR光譜具有豐富的結構和組成信息，非常適合用于碳氫有機物質的組成與性質測量。但在NIR區域，吸收強度弱，靈敏度相對較低，吸收帶較寬且重疊嚴重。
近紅外光譜分析儀優勢：
1、全波長瞬態掃描，對生產線中快速移動的樣品實時測量。
2、高分辨率二極管陣列技術，可通過反射或透射方式實現樣品的快速連續分析。
3、內置儀器標準化，快速、簡捷地實現不同儀器間模型轉移。
4、分析速度快，一分鐘內同時檢測出多個指標。
5、針對不同樣品狀態選擇特定的樣品接口，實現準確快速的測定。
6、內置雙燈源，自動啟動備用燈源，儀器可連續不間斷監測樣品，同時保證測量準確性。
7、完善的運行保護系統，較大限度減少儀器維護量。
8、可實現定性定量分析，更好地實現生產過程控制。
