隨著半導體器件、量子器件和材料科學等域的蓬勃發展，器件的尺寸變得越來越小、結構越來越復雜，與之相應的微納尺度下的加工精度要求越來越高。聚焦離子束（FIB）系統已成為相關域的研究中*的關鍵設備。截止到目前，可商購的FIB系統大都使用液態金屬或惰性氣體作為離子源，但是采用上述離子源的FIB系統在加工精度，加工速度，維護難度和使用費用等方面很難達到令人滿意的平衡，因此兩者并非FIB系統的理想離子源選擇。
為了解決商用FIB系統中存在的上述問題，2020年，美國zeroK NanoTech公司運用曾獲諾貝爾獎的激光冷卻技術，推出了新代高精度低溫銫離子源FIB系統——FIB: ZERO。該系統采用低溫銫離子源（Cs+ LoTIS），在很大程度上減少了離子的隨機運動，使FIB：ZERO中的離子束斑與傳統離子源產生的束斑相比具有更高的亮度，更小的尺寸，和更低的能量散失。因此，可以獲得更清晰的成像、更高的加工精度和更少的樣品損傷。同時，也顯著降低了維護難度和使用成本。近日，Quantum Design中國正式引進新代高精度低溫銫離子源FIB系統，希望能夠幫助我國科學家在半導體器件、量子器件和材料科學等域有更深入的研究。
新品亮點
1. 更清晰的成像效果，更大的成像景深
2. 更明顯的對比度
3. 更高的加工精度（相同時間）
4. 更好的加工均勻性（相同時間）
5. 對樣品小的損傷范圍
Stopping and Range of Ions in Matter（SRIM）模擬不同離子源產生的離子束在硅中的影響范圍
| 傳統氣體離子源 | 傳統液態金屬離子源 | 新代低溫銫離子源 |
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