單晶樣品的晶體定向是單晶生長之后的重要工作內容之一。近期，日本Pulstec公司發布的新一代X射線單晶定向系統（型號：s-Laue），采用了新型的圓形全二維面探測器技術，使得設備的構造大大簡化，具有操作簡單、測試效率高（典型測試時間為60秒）、占地面積小等諸多技術特色。日本Pulstec公司可提供臺式和便攜式(待發布)兩種類型的單晶定向系統，臺式機可滿足實驗室對小樣品進行單晶定向的需求，便攜式設備也可以用于大型零件的現場晶體定向應用需求。
為便于廣大客戶全面了解和親身體驗新一代X射線單晶定向系統（型號：s-Laue），Quantum Design中國公司引進了s-Laue樣機，目前該設備已安裝于我司實驗室并完成調試。即日起，我們歡迎對該設備感興趣的老師和同學來樣、來訪，我們在QD中國樣機實驗室恭候大家的到來！
應用案例：
Al2O3單晶樣品獲得的勞厄斑點
Si單晶樣品獲得的勞厄斑點
已有用戶：
東京工業大學
1、新一代X射線單晶定向系統-s-Laue：http://www.61safe.com/st166724/product_37361430.html
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