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Niton便攜式 X 射線熒光分析儀幫您從廢金屬作業(yè)中剔除猜測(cè)
XRF（X 射線熒光）是一種用于測(cè)定材料中元素組成的無(wú)損分析技術(shù)。XRF 技術(shù)通過(guò)分析可樣品由一級(jí) X 射線源激發(fā)而散射出的熒光（或二級(jí)）X 射線，來(lái)確定樣品的化學(xué)屬性。樣品中的每一種元素受激發(fā)后都會(huì)產(chǎn)生一組特定的熒光 X 射線（“指紋”），因此對(duì)于材料化學(xué)成分定量及定性分析而言，XRF 光譜法是一種非常好的技術(shù)。
X 射線熒光過(guò)程:
用受控 X 射線管發(fā)出的高能 X 射線照射固體或液體樣品。
當(dāng)樣品中的某個(gè)原子被能量充足（大于原子的 K 或 L 殼層結(jié)合能）的 X 射線撞擊時(shí)，就會(huì)從原子的一個(gè)內(nèi)軌道殼層中逐出一個(gè)電子。
原子恢復(fù)穩(wěn)定性，并使用來(lái)自原子更高能量軌道殼層之一的電子填補(bǔ)內(nèi)軌道殼層的空缺。
電子通過(guò)釋放熒光 X 射線降至較低能量狀態(tài)。該 X 射線的能量等于電子兩個(gè)量子態(tài)之間的特定能量差。這種能量的測(cè)量是 XRF 分析的基礎(chǔ)。
如果廢品（包括存在污染物或危險(xiǎn)元素者）中的確切化學(xué)組分不確定，則質(zhì)量、安全和法規(guī)合規(guī)性均有風(fēng)險(xiǎn)。為幫助確保產(chǎn)品完整性，廢金屬作業(yè)可憑借 Thermo Scientific™ Niton™ 便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀進(jìn)行精確、可靠的材料鑒定。
Niton 分析儀可驗(yàn)證幾乎所有類型金屬合金元素，包括微量級(jí)別到工業(yè)上的純金屬，并且能夠區(qū)別組分幾乎相同的合金品位。
明確鑒定物料輸送點(diǎn)的眾多合金并保證產(chǎn)品質(zhì)量
確定金屬組分，進(jìn)行精確分類
鑒定雜質(zhì)/痕量元素
數(shù)秒內(nèi)獲得無(wú)損分析，且無(wú)需或極少需要樣品制備
提高金屬加工作業(yè)的速度。
可對(duì)廢品作業(yè)精確分類并分級(jí)。