X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶w及非導體材料進行分析。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？
　　1、莫塞萊定律
　　莫塞萊定律是反應各個元素X射線特征光譜規(guī)律的一種實驗定律，依靠莫塞萊定律進行分析的方式也是可靠的方法之一。X熒光光譜儀在對材料進行分析時也會使用到這一定律，在分析時X熒光光譜儀能夠?qū)?nèi)層電子的躍遷產(chǎn)生的、表明X射線特征的光譜和原子序數(shù)一一對應起來，從而獲得分析結(jié)果。
　　2、布拉格定律
　　該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導定律，同時，布拉格定律是波長色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進行材料檢測分析的時候能夠讓不同元素不同波長的特征X熒光分開，使譜線處理工作變得非常簡單，降低儀器檢出限。
　　3、比爾-朗伯定律
　　比爾-朗伯定律是反應樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對強度的計算問題。X熒光光譜儀采用這一定律進行檢測分析時，樣品可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長分開，分別測量不同波長的X射線強度，以進行定性和定量分析。