1、紫外熒光法測硫含量原理

 

將樣品中的硫化物在高溫(1050℃左右)富氧環(huán)境中轉(zhuǎn)化為二氧化硫(SO2)，試樣燃燒生成的氣體在除去水后被紫外光照射，二氧化硫(SO2)吸收紫外光的能量，轉(zhuǎn)變?yōu)榧ぐl(fā)態(tài)的二氧化硫(SO2*)。當激發(fā)態(tài)的二氧化硫(SO2*)返回到穩(wěn)定態(tài)的二氧化硫(SO2)時，發(fā)射熒光并由光電倍增管檢測，由所得信號值計算出樣品中的總硫含量。

 

2、單波長色散X射線熒光光譜法測硫含量原理

 

單波長X熒光對樣品進行照射，激發(fā)樣品的K層電子逃逸，樣品的P層電子將會躍遷到能量較低的K層電子，在躍遷的同時發(fā)出S元素的特征X熒光。對于樣品的特征X熒光，使用球面晶體再進行分光，僅將代表S元素的特征熒光，通過一個特定的角度照射的正比例計數(shù)器進行計數(shù)，正比例計數(shù)器中的積分讀數(shù)經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換，得到樣品中總S的數(shù)值。