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新開發(fā)的分析技術：偏振X射線用于熒光分析
德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種新技術，那就是把偏振X射線應用于熒光分析，這種技術極其成功。
像如今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種先進的分析技術也成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。
斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。
SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件，由此獲得了較好的靈敏度和準確性。偏振刺激靶的設計，確保激發(fā)的進行。12位樣品自動交換器、預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
擴展的偏振光學系統(tǒng)的輻射源*采用50W低能量的X射線管，可用于Na-U元素的同時分析。從X射線中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學系統(tǒng)進行轉換，可以得到*偏振且部分單色的X射線，由此能夠高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。