霍爾效應的測量是研究半導體性質(zhì)的實驗法。利用霍爾系數(shù)和電導率的測量，用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率隨溫度的變化，確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。
本儀器是利用電子和計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量，來確定半導體材料的性質(zhì)。
變溫霍爾效應實驗儀是由電磁鐵、可自動換向穩(wěn)流源、恒溫器、測溫控溫系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。
產(chǎn)品特點：
1.可用范德堡法測量和標準法測量樣品；
2.可手動測量和自動測量；
3.電流自動換向、磁測自動換向，電導和霍爾自動換向；
4.R1和R2自動測量。
規(guī)格參數(shù)：
電磁鐵：0-400mT可調(diào)
勵磁電源：0-6A可調(diào)，可自動換向
穩(wěn)定性：＜±0.1%
數(shù)字特斯拉計：0-2000mT，四位半數(shù)字顯示
恒流源輸出：1μA-200mA連續(xù)可調(diào)
穩(wěn)定性：±0.1%
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量范圍：0-2000mV
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓分辨率：1uV
測溫范圍：77-450K
功率范圍：200W
供電電源：AC 220V，50Hz
變溫霍爾效應測量儀
