涂層測(cè)厚儀除了可以測(cè)量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層，亦可以測(cè)量金屬電鍍的鍍層測(cè)厚儀，因而，涂層測(cè)厚儀，通常也稱(chēng)為涂鍍層測(cè)厚儀。

常規(guī)涂層測(cè)厚儀的原理

對(duì)測(cè)振外表面保護(hù)、裝璜造成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在無(wú)關(guān)國(guó)jia和標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層（coating）。

覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、外表面工程品質(zhì)檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品到達(dá)優(yōu)等品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*要點(diǎn)。

覆層厚度的測(cè)量辦法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些辦法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量方式繁瑣，速度慢，多實(shí)用于抽樣測(cè)驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有噴射源，運(yùn)用者必需恪守射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法合適鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益提升，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多性能、高精度、適用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可到達(dá)1%，有了大幅度的提升。涂層測(cè)厚儀實(shí)用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研運(yùn)用寬泛的測(cè)厚儀器。

涂層測(cè)厚儀采用無(wú)損辦法既不毀壞覆層也不毀壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地實(shí)行。