對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

牛津熒光鍍層膜厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：

    PCB、FPC、LED支架和封裝、連接器、端子、電子元件、五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構(gòu)和科研院校。

    該設(shè)備的測量結(jié)果報告中可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點圖片、各種統(tǒng)計報表；可使用系統(tǒng)預(yù)置的報告模板和客戶自定義的報告模板。測量時間約10秒，快速無損得出測量結(jié)果，進行非破壞的能量色散X射線熒光（EDXRF）分析。系統(tǒng)安全設(shè)置級別，配置有X射線警示燈、X射線鎖、紅色急停開關(guān)、樣品室開閉門傳感器、光閘傳感器、使用者和管理員分級密碼管理等。