實驗室電子天平校準基礎知識

                                                  ——梅特勒-托利多

1.  哪些允差適用于天平校準？

• 允差設置了發(fā)出通過/未通過聲明的標準。 允差有各種來源，包括法定機構、制造業(yè)和過程本身。

法定允差：OIML R76或NIST手冊44（美國）規(guī)定的法定允差用于評估合法貿易品要求。 這些允差非常大，使用實驗室天平或者在測量范圍的低端進行稱量時，可輕易達標。

允差：允差可確保設備滿足規(guī)格。 允差不考慮用戶的特定過程要求，因此不適合改進稱量過程。

過程允差：特定過程允差由用戶定義，支持過程改進，節(jié)省材料，避免浪費和返工。 因此，對于合法貿易應用中的秤，除法定允差外，還應使用過程允差。 有關梅特勒-托利多的GWP Verification®解決方案如何改進稱量過程的詳細信息，請訪問我們。

 法定允差可保護消費者但不會考慮特定生產(chǎn)商的要求。 優(yōu)化應用于測量儀器的過程允差會對過程盈利能力產(chǎn)生巨大影響。

2.  校準和校正之間是否存在差別？

是，兩者之間存在重要差別。 遺憾的是，術語“校準”和“校正”經(jīng)常被混淆。

校準

計量局（BIPM）和計量學聯(lián)合委員會（JCGM）已創(chuàng)建了一個有價值的工具來幫助標準化稱量術語，稱為計量學詞匯（VIM）。 在該詞匯表中，項目2.39將校準定義為天平操作方式的一個方面：

“在條件下的操作，步是在量值與測量標準和具有關聯(lián)的測量不確定性的相應指示提供的測量不確定性之間建立關系，第二步，使用該信息建立關系以從指示中獲得測量結果。”

換言之，天平或秤要通過校準來理解和記錄操作方式。 上述定義還清楚表明，導出測量不確定性是校準中不可分割的一部分。 無測量不確定性聲明的天平校準是不完整的，充其量只是抽查。

校正

校準用于指明天平或秤的操作方式時，而設備校正是更改其操作。 校正在VIM中的定義如下：

“在測量系統(tǒng)中進行的一組操作，提供與將要測量的數(shù)量的給定值一致的規(guī)定指示。”

因此，校正天平或秤意味著以特定方式修改其指示，以使它們盡可能地與采用的測量標準的量值相對應。

3. 如何確保的稱量結果？

的結果是多種主要維護活動的綜合，可通過3個簡單步驟來實現(xiàn)。 除校準外，日常測試可持續(xù)改進天平或秤的性。 校準是由授權服務技術人員執(zhí)行，而日常測試則由儀器用戶執(zhí)行。 日常測試還可確保及早檢測到可能的天平不符合稱量過程要求的情況。 如果執(zhí)行次數(shù)足夠頻繁，則可在造成任何損害前檢測到超出允差的狀態(tài)。

下圖展示了由授權技術人員執(zhí)行的安裝以及定期天平校準。 用戶更頻繁地檢查天平。

4.多久必須校準一次天平以及不校準的風險是什么？

校準將報告執(zhí)行校準時的結果。 在許多情況下，負責人員將假設校準有效期為一年。 這將得到錯誤的結論，即一年的校準間隔已足夠。

理想情況下，校準間隔根據(jù)基于風險的方法來確定，例如，某些方面出錯的概率是多少以及影響有多大？ 影響大和概率高與高風險相對應，這樣就需要更短的校準間隔。 反之，影響小和概率低則意味著低風險，從而可延長間隔。

放棄校準是高風險策略。 與未經(jīng)校準的天平或秤相關聯(lián)的隱藏成本和風險可能遠高于校準成本自身。 使用未經(jīng)校準的設備會導致生產(chǎn)問題，比如：

• 1）計劃外停產(chǎn)
• 2）產(chǎn)品質量降低
• 3）過程和審核問題
• 4）產(chǎn)品返工和召回

環(huán)境變化也會導致未檢測到的偏移或增加導致性能降低的隨機錯誤數(shù)。 定期按計劃校準并執(zhí)行日常測試（請參見以下內容）是降低與校準相關的風險的很好的方法。