美通社紐約州阿爾巴尼2016年12月13日電 – 發(fā)布的ASTM D8064-16標(biāo)準(zhǔn)測試法已被批準(zhǔn)使用能量色散X射線熒光（簡稱EDXRF）光譜測定法，來進(jìn)行土壤和固體廢物中重金屬元素的量化分析。這個測定法使用了多個單色光束，又叫高精度X射線熒光(HDXRF)。范圍對土壤修復(fù)和治理的需求日益增長，這個新方法的及時出現(xiàn)，為該行業(yè)提供了一個被認(rèn)可的標(biāo)準(zhǔn)。

ASTM D8064適用于各種土壤基質(zhì)對于鉻、鎳、砷、鎘、汞和鉛的測定。由于這些元素被廣泛應(yīng)用于眾多工業(yè)流程，并且它們殘留在很多廢棄的工廠里，因此推動了準(zhǔn)確、快速、簡易現(xiàn)場測試方法的需求，這個方法就是HDXRF。

XOS先進(jìn)技術(shù)發(fā)展總監(jiān)*博士表示：“這個新標(biāo)準(zhǔn)提供了一個被認(rèn)可的方法，實現(xiàn)了更加量化的分析，而簡單的篩查法無法達(dá)到很多環(huán)境應(yīng)用所需的必要檢測性能。”

陳博士表示，ASTM D8064標(biāo)準(zhǔn)測試法已被成功用于測定土壤和固體廢物中的重金屬，該測試法滿足了行業(yè)需求。

XOS公司研發(fā)的HD Rocksand®采用了HDXRF技術(shù)是一款用于現(xiàn)場分析土壤和水中超低含量重金屬的便攜式分析儀。HD Rocksand能做的遠(yuǎn)不止簡單的篩查，它也提供了符合EPA 6200和ASTM D8064標(biāo)準(zhǔn)的量化檢測解決方案。XOS將在Batle的第九屆受污染沉積物修復(fù)與管理會議(Ninth International Conference on Remediation & Management of Contaminated Sediments)的309號展位以及匹茲堡分析化學(xué)與光譜應(yīng)用會議暨展覽會(Pittcon)的1636號展位展示HD Rocksand，前者于2017年1月9-12日在新奧爾良舉辦，后者于2017年3月5-9日在伊利諾伊州芝加哥舉辦。

XOS簡介
XOS是的X射線分析儀制造商，提供元素分析解決方案，旨在提高公共安全和石油、消費品（如玩具）及環(huán)境合規(guī)等行業(yè)的效率。XOS提供可用于檢測消費品中有毒成分的分析儀、用于石油應(yīng)用的便攜式、實驗室和流程分析儀、以及用來檢測消費品和環(huán)境中有毒成分的分析儀。