JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀(自動平衡,內置電壓）

關鍵詞：高精度，自動平衡，電導率

JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀是一款新的使用自動平衡電橋技術及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~25MHz，最小分辨率1mHz，基本測量精度可達0.05%。,提供內部偏置電壓±40V偏置電壓源，有多種測試夾具電導率σ·介電常數ε的運算功能，是壓電材料，電阻，電容，電器等得重要檢測設備。

一、產品應用范圍：

1、高頻壓電材料器件科學研究

2、高頻壓電材料的用于評定壓電陶瓷片性能優劣

3、高頻壓電材料阻抗分析

4、半導體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性

5、液態介電、介電治具和導磁系數參數測量

6、等效電路模型分析等功能測試

7、可以配合高溫平臺進行材料多參數聯合測試

二、規格參數:

1.測試頻率：20HZ-10MHZ,15MHZ,25MHZ多種可選

2.測試電平:.005-5Vrms(<=1mhz)>1MHz)

3.內部直流偏置電壓 :-5V～+5V或是：-40V～+40V

4.控壓方式：全頻操作

5.基本準確度: 0.1%

4.測試參數：C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

5.基本準確度: 0.05%,

6.顯示器: 350×260點陣圖形LCD液晶顯示

7.可測量22種阻抗參數組合

8.接口方式:RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB（選件）

9.電壓:AC-220V

10.體積：450mmx135mmx420mm

11.重量:3.5KG

12.顯示方式：液晶顯示

13.可以配合ZJ-3，ZJ-6型壓電測試儀測試g33系數

14.觸發方式：手動，內觸發，外觸發

自動平衡電橋技術

以往低端簡化的運放阻抗測量電路如下圖：

以上電路在實際運作時，隨著頻率的升高，虛地點會越來越不理想，導致流過被測件DUT的電流信號不能全部進入IV轉換標準電阻Rr，所以會造成測量誤差越來越大。

而JKZC-JMZK25使用的自動平衡電橋測試原理，把上圖簡易的測量運放改進成：Lpot檢零電路，0度90度數字檢相及調制解調電路，Lcur高頻驅動電路等等組成的矢量負反饋網絡。從而保證了測量電路的虛地端更接近理想。下面2圖是簡易運放阻抗測量電路以及自動平衡電橋阻抗測量電路Lcur（虛地點）的波形實測對比：

使用簡易運放阻抗測量電路1MHz測量6.8nF Lcur（虛地點）實測波形如下：

使用自動平衡電橋阻抗測量電路1MHz測量6.8nF Lcur（虛地點）實測波形如下：

以上可見，使用簡易運放阻抗測量電路虛地端電壓峰峰值高達59mV，而使用自動平衡電橋原理的虛地端電壓峰峰值僅為2mV，所以：使用自動平衡電橋的虛地性能遠遠好于使用一個簡易運放做測量的電路。

主要測量頁面

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