JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，高性價比。在高等院校教學和小型實驗室科研過程中得到了廣泛運用，配合對應的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如果您的測試器件pad電極大于50um,此系列探針臺。

JKZC-DN系列探針臺是我司一款增強型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結構，顯微鏡可X-Y-Z方向進行精密位移調節。卡盤具備上下調節功能,可以使探針與 樣品快速分離，提高測試效率，在科研單位和半導體工廠都得到了運用，配合對應的儀器儀表,可以完 成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測試/管芯晶圓LED/LCD/太陽能電池行業的測試。此系列探針臺可以實現1μm以上的Pad電極測試。

JKZC-DH系列探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能，還具備探針臺卡盤快速移動技術，可快速定位 樣品位置,提高測試效率。另外針座平臺具備三段式升降功能,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到 快速分離，同時也方便探針卡的使用。此設備在大型實驗室或者半導體工廠得到廣泛運用，配合對應的儀器儀表，可以完成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測試/管芯晶圓/LED/LC- D/太陽能電池行業的測試。此系列探針臺可以實現1μm以上的Pad電極測試,也可以實現搭載探針卡的測 試。

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時扎針以實現各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點針，正面收集光線等,運用十分豐富。該定制探針臺具有優良的機械系統，穩定的結構，符合人體工程學，以及多項升級功能。此設備在激光器,LD/LED/PD的光強/波長測試等 方面得到了廣泛運用。如果您的產品也有雙面點針,或者背面點針的需求，此款產品。

JKZC-UC系列探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。此設備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運用非常廣泛。

JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷，可以在防輻射屏內營造一個穩定的測試環境。在特殊材料，半導體器件等研究方向具有廣泛運用。

極低溫測試:因為晶圓在低溫大氣環境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程 泵的運轉。

高溫無氧化測試:當晶圓加熱至300°C,400°C,500°C甚至更高溫度時，氧化現象會越來越明顯，并且溫度越 高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差，物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。

我公司還生產各種非標準探針臺。

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