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固體表面電位可同時測量出電解質的電導率
閱讀：2635發布時間：2018-2-2
固體表面電位可同時測量出電解質的電導率
固體表面電位儀
包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構系統,,包括顆粒、沉積物和多孔材料
包括高頻電導率探頭，可以通過方法測量孔隙率
通過電聲電振法可以測量多孔材料的表面zeta電位
在用膠體振動電流(CVI)方式測定原濃體系的zeta電位時,輸入電導率值可計算雙電層厚度及粒子表面電荷密度
固體表面電位測量原理：
固體表面電位在電化學雙電流層的模型中，電荷分布形成固定層與可移動層。滑動層將這兩層彼此分離。電位為在滑動層上固體表面與液相之間電勢的衰減。電解質流動的外部力平行應用于固體與液體界面導致固定層與可移動層之間相對運動與電荷分離，由此得出實驗的ZETA電位。流動電勢的大小由液相的流動壓差P決定。ZETA電位即可定義為固體表面的固定層電荷與離子移動層之間的電勢，相應的流動電勢系數為dU/dP，ZETA電位表示為：
dU
?=____×?/(?×?。)×K
dP
固體表面電位特性，?粘性，?×?。雙電系數，液相電解質電導率K都決定ZETA電位的大小。得出電位值時，需要說明電解質溶液的類型，濃度，PH值。
稀釋的電解質循環流經裝有樣品的測量池，由此產生一個壓差，其電荷在電化學雙電層中相對運動產生并增加流動電壓，這個流動電壓/流動電流(可選擇)由置于樣品兩邊的電極檢測。固體表面電位可同時測量出電解質的電導率，溫度及PH值。
固體表面電位儀
包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構系統,,包括顆粒、沉積物和多孔材料
包括高頻電導率探頭，可以通過方法測量孔隙率
通過電聲電振法可以測量多孔材料的表面zeta電位
在用膠體振動電流(CVI)方式測定原濃體系的zeta電位時,輸入電導率值可計算雙電層厚度及粒子表面電荷密度
固體表面電位測量原理：
固體表面電位在電化學雙電流層的模型中，電荷分布形成固定層與可移動層。滑動層將這兩層彼此分離。電位為在滑動層上固體表面與液相之間電勢的衰減。電解質流動的外部力平行應用于固體與液體界面導致固定層與可移動層之間相對運動與電荷分離，由此得出實驗的ZETA電位。流動電勢的大小由液相的流動壓差P決定。ZETA電位即可定義為固體表面的固定層電荷與離子移動層之間的電勢，相應的流動電勢系數為dU/dP，ZETA電位表示為：
dU
?=____×?/(?×?。)×K
dP
固體表面電位特性，?粘性，?×?。雙電系數，液相電解質電導率K都決定ZETA電位的大小。得出電位值時，需要說明電解質溶液的類型，濃度，PH值。
稀釋的電解質循環流經裝有樣品的測量池，由此產生一個壓差，其電荷在電化學雙電層中相對運動產生并增加流動電壓，這個流動電壓/流動電流(可選擇)由置于樣品兩邊的電極檢測。固體表面電位可同時測量出電解質的電導率，溫度及PH值。
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