儀思奇科技攜多款新產品亮相IPB2018

閱讀：4128發布時間：2018-10-24

第十六屆中國粉體加工/散料輸送展覽會（IPB2018）作為粉體行業的重要的年度盛會于2018年10月17日在上海世博展覽館盛大開幕。儀思奇科技攜多款新產品亮相此次展會。此次參展的主要產品主要有新一代高分辨率圖像法粒度粒形分析儀IPAC2；圖像法顆粒跟蹤zeta電位分析儀ZetaCompact^®；固體表面電位儀ZetaCAD^®和超聲法粒度和zeta電位分析儀。

儀思奇科技一直孜孜以求于把的顆粒分析技術引入國內市場，讓新老客戶了解到的圖像粒度分析技術水平和豐富的多種zeta電位解決方案。

在此次展會上，儀思奇科技展出了分辨率可達到0.17微米/像素的圖像法粒度粒形分析儀IPAC2。IPAC2圖像法粒度和粒形分析儀屬于濕法動態分析儀器，其分析范圍粒度范圍：0.3~1000μm，具有1200萬像素CMOS成像系統，可配置自動進樣系統。IPAC2可以確定蛋白質藥物中污染物來源及聚集體個數,符合藥典要求；可對蛋白質中氣泡、硅油、異物等進行分類和數量統計，并可用于拋光液中的顆粒計數。

OCCHIO公司的ghost技術，可以對透明顆粒進行成像；強大的軟件系統，使得IPAC2具有跟蹤和計數功能。IPAC2是解決蛋白質、乳液等樣品粒度粒形分析的利器。

在此次展會上同時展出了圖像法zeta電位儀zetaCompact^®和固體表面zeta電位儀ZetaCAD^®。

圖像法zeta電位分析是用于光散射電泳法和電聲法zeta電位分析校準的基準儀器，可用于解決測量從20nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，并計算膠體懸浮液的zeta電位。*，密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。圖像法zeta電位儀zetaCompact^®采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布，計算zeta值。并且能給出每個顆粒的zeta值，給出真正的zeta電位分布圖（如下圖），特別適合于乳液、纖維、混合材料、礦漿等樣品的測定和分離條件確定。

固體表面電位分析儀ZetaCAD^®是基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。ZetaCAD^®適用于50μm以上的大顆粒、纖維和膜類等平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質可以透過的曲面膜或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。固體表面電位分析儀研究材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，幫助科研人員在化學與材料科學領域內改善和調整表面特性。

在IPB同期舉行的2018第三屆上海醫藥粉體制備技術交流會，邀請了國內藥用粉體顆粒領域的專家開展高峰論壇，儀思奇科技總經理楊正紅先生應邀做《靜態圖像法粒度和形貌分析技術在藥品質量控制中的應用》主題報告。通過此次論壇，儀器廠商交流學習，廣大用戶互助探討，進一步加深了對藥用粉體顆粒領域顆粒表征技術的理解。