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納米粒度儀主要的2種測量原理
納米粒度儀采用動態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進行納米粒度測量，被廣泛應(yīng)用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
測量原理：動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）。
光源：集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的功率50mW，波長638nm固體激光器。
相關(guān)器：高速數(shù)字相關(guān)器，自適應(yīng)通道配置。
主要特點包括：
1.經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm-15μm。
2.加持自動恒溫技術(shù)的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用。
3.激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)。
4.信號光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)。
5.集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器。
6.常規(guī)溫度控制范圍可達0°C ~ 90°C，可選120°C， 精度±0.1°C。
7.新一代高速數(shù)字相關(guān)器，動態(tài)范圍大于10¹¹。
8.冷凝控制-干燥氣體吹掃技術(shù)。
珠海真理光學儀器有限公司專注于顆粒表征和分析儀器的研發(fā)和生產(chǎn)，公司聚集了多位在顆粒學和粉體技術(shù)領(lǐng)域具有豐富經(jīng)驗和工作成就的精英人才，其涵蓋顆粒表征技術(shù)的基礎(chǔ)理論研究、應(yīng)用技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品制造、技術(shù)支持和商業(yè)運營服務(wù)。