上儀三廠WGG2-201光學高溫計

光學高溫計是利用受熱物體的單色輻射強度隨溫度升高而增長的原理來進行高溫測量的。對于黑體其單色輻射強度EOλ與溫度的關系，可用普郎克公式表示。

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  光學高溫計是利用受熱物體的單色輻射強度隨溫度升高而增長的原理來進行高溫測量的。對于黑體其單色輻射強度EOλ與溫度的關系，可用普郎克公式表示。

EOλ= C1λ-5 （e2/λt─1）-1

式中：C1=37402×10-5爾格•.厘米.•秒-1
C2=1.34385厘米•OK
E=自然對數的底
T=黑體的溫度（OK）
本光學高溫計是采用亮度均衡法進行溫度測量的。亦就是使被測物體成象于高溫計燈泡的燈絲平面上，通過光學系統在一定波段（0.65μ）范圍內比較燈絲與被測物體的表面亮度，調節滑線電阻。使燈絲的亮度與被測物體的亮度相均衡，此時燈絲輪廓就隱滅于被測物體的影象中（圖七），并可由儀表示值直接讀取被測物體的亮度溫度。

本光學高溫計是按黑體來進行溫度刻度的。但被測物體往往是非黑體（其單色輻射黑度系數ελ＞1，ελ值大小是由各種物體的性質及其表面狀態來決定的。所以在同一真實溫度下的各種物體，由于他們的單色輻射黑度系數ελ不同，則由光學溫度計測得亮度溫度亦各不相同。為此，由光學高溫計所測得的亮度溫度必須用該物體的單色輻射黑度系數ελ修正后，才能求得該被測物體的真實溫度。
四、儀表結構概述
WGG2型光學高溫計由兩個主要部分組成，光學系統與電測系統，如圖三和圖四所示。