1、篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點：不能用于40μm以細的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

2、顯微鏡法：優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點：速度慢、代表性差，無法測超細顆粒。

3、沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。 缺點：測試時間較長。

4、電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒總數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。 缺點：測試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應具備嚴格的導電特性。

5、電鏡法：優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。

6、超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接測量。 缺點：分辨率較低。

7、透氣法：優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。 缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

8、激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。 缺點：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價較高。