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武漢東隆科技有限公司
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光纖微裂紋檢測儀以白光干涉為原理，最初受限于延時纖的測量長度只能測試6cm，使得測試場景非常局限。經過3年多的技術鉆研，在剛剛過去的2022年里，東隆科技研發工程師們攻克了這個難關，在光纖測量長度上實現了二連跳，1月測量長度從最初的6cm升級至12cm，10月測量長度從12cm升級至40cm。到了2023年年初，光纖微裂紋檢測儀測量長度直接升級至1m，快速實現三級跳。然而我們每一次的系統技術優化升級，都是為用戶提供更好的產品和服務體驗。本次，光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,不僅為用戶解決匹配
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TCSPC時間相關單光子計數技術是一種成熟且通用的單光子計數技術，是一種功能強大的分析方法，目前廣泛應用于熒光壽命測量、時間分辨光譜、熒光壽命成像、飛行時間測量等眾多領域，尤其是在生命科學和基礎物理學中使用。此技術用于執行超精確的熒光和磷光壽命測量。TCSPC時間相關單光子計數系統基于的原理是：在記錄低強度、高重復頻率的脈沖信號時，由于信號光強度很低，以至于在一個信號測量周期內探測到一個光子的概率遠遠小于1.因此，不需要考慮在一個周期內探測到幾個光子的情形。只要記錄這些光子，測量他們在信號測量周
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當我們在使用光頻域反射（OFDR）技術檢測光鏈路，不僅能獲得很高的空間分辨率的回波強度曲線，而且利用背向散射法測損耗可得到鏈路的沿線損耗情況及各個器件點的損耗。當光鏈路中有兩路以上的分支時，各個分支的瑞利散射信號會混疊到一起，此時使用背向散射法就不能測試出各個分支光鏈路損耗情況。但針對多分支光鏈路信號混疊在一起的情況下，本文給出了高分辨光學鏈路診斷儀OCI測試多分支光鏈路中各個分支鏈路損耗情況的方法。背向散射法測損耗背向散射法是一種被測件DUT前一點的光功率作為測量回損（RL）的入射光功率，進而
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PMT是光電倍增管。它是一種真空器件，由光電發射陰極（光陰極）和聚焦電極、電子倍增極及電子收集極（陽極）等組成。典型的光電倍增管按入射光接收方式可分為端窗式和側窗式兩種類型。光電倍增管采用了二次發射倍增系統，所以在探測紫外、可見和近紅外區的輻射能量的光電探測器中，具有很高的靈敏度和極低的噪聲，響應速度非常快的單點光探測器。PMT核心原理就是通過把入射的光子轉化成電子，在電子倍增電場作用下進行倍增放大，最后放大后的電子通過陽極收集后輸出。通過AD轉換器，信號可以通過示波器直接顯示。典型的光電倍增管
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在光學領域，透鏡是光學系統中最重要的組成元件，現代的光學儀器對透鏡的成像質量和光程控制有很高的要求。尤其在透鏡的制造要求上，加工出的透鏡尺寸，其公差必須控制在允許范圍內，因此需要在生產線上形成對透鏡厚度實時、自動、精準的檢測，這對提高產線的生產效率和控制產品的質量具有重要意義。目前，測量透鏡中心厚度的方法主要分為接觸式測量和非接觸式測量。接觸式測量有很多弊端，如不能準確找到透鏡的中心點(最高點或最di點)，測量時需要來回移動透鏡，效率不高，容易劃傷透鏡的玻璃表面。而非接觸測量一般采用光學的方法，
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由于收集的光子數量較少，單光子探測器使研究人員能夠更深入地觀察組織，同時減少測量時間。許多PhotonForce的使用者一直在使用單光子計數相機進行DCS測量，從而提高采集效率和速度。使用單光子計數相機PF32進行DCS測量的一種方法，是以非常高的幀速率獲取光子計數數據，以便測量發生在大腦內的快速去相關時間。處理如此大量的數據可能會帶來其他挑戰，從而無法實現實時測量。雖然這在某些情況下是可以接受的，但PhotonForce的客戶FacebookRealityLabs需要實時測量反饋。為此Phot
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MultiHarp150-P系列結合高時間精度和超短死時間的TCSPC，具有10ps時間分辨率的高通量多通道事件計時器。近日，在德國柏林PicoQuant發布了2020新款MultiHarp150-P系列高通量多通道事件計時器：MultiHarp1504P、8P和16P。它們具有4、8或16個探測通道，可提供更高的時間精度：10ps小時間分辨率，也是市面上一款具有650ps死時間的TCSPC所能達到的高時間分辨率。同時，MultiHarp150-P系列是PicoQuant新的標準TCSPC模塊，
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周期性極化鈮酸鋰晶體（PPLN）模塊可用于可見光、近紅外以及中紅外波段的波長轉換應用，波長范圍400-1100nm，可用于激光波長倍頻（SHG）、和頻（SFG）以及差頻（DFG）的波長轉換應用，具體輸出波長可接受定制。模塊包含PPLN波導、TEC冷卻模塊，輸出方式可選擇空間光輸出或者光纖耦合輸出，具有轉換效率高、功率損耗小、產品質量穩定等特點。產品原理準相位匹配技術倍頻(SHG),和頻(SFG),差頻(DFG)效應都是二階非線性的光學過程，輸入的激光產生電場會導致二階偶極子的極化效應，根據量子光
