Park原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種高精度的分析儀器，用于研究固體材料（包括絕緣體）的表面結構。以下是關于Park原子力顯微鏡的使用與維護的詳細指導：

　　一、使用指導

　　1.啟動與初始化

　　打開電箱和光學光源，啟動AFM成像軟件及CCD相機軟件。

　　根據需要調整CCD的大小和位置，開始CCD捕捉。

　　2.樣品準備與更換

　　檢查樣品是否適合在原子力顯微鏡中使用，避免使用不合適的樣品。

　　使用鑷子夾取和更換樣品，確保樣品固定良好，避免在測試過程中產生晃動或摩擦。

　　粉末/液體樣品需備注好制樣條件，包括分散液、超聲時間及配制濃度。

　　測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上，基底大小需滿足要求。

　　3.探頭與探針的更換

　　拆卸探頭支架，將探頭放在交換工具上，進行探針的更換。

　　使用新的探針時，需確保探針固定良好，避免在測試過程中脫落。

　　4.調整與聚焦

　　調整光學系統的Z運動以聚焦在懸臂上，通過旋轉翼形螺釘和指螺旋針來調整激光點的位置。

　　將光學器件聚焦在樣品上，使用X-Y樣品轉換器將樣品移動到下方。

　　5.測試與掃描

　　設定掃描參數和掃描模式，開始掃描過程。

　　監控掃描進度，并在掃描完成后保存數據。

　　根據需要調整掃描范圍、掃描速度和掃描分辨率等參數。

　　6.注意事項

　　避免任何刮擦、撞擊或其他對樣品的損壞行為。

　　避免任何液體或高溫、高壓等有害物質被迅速添加到樣品中。

　　在測試過程中，注意觀察樣品的變化和儀器的狀態，及時進行處理和調整。
 

　　二、維護指導

　　1.日常清潔

　　定期清理儀器表面和內部，避免灰塵和污垢的積累。

　　使用柔軟的布料和適當的清潔劑進行清潔，避免使用腐蝕性或刺激性物品。

　　2.設備校準

　　定期對儀器進行校準，確保測試的準確性和可靠性。

　　校準過程中需遵循儀器的使用手冊和校準規程。

　　3.探頭與探針的維護

　　定期檢查探頭和探針的狀態，如有損壞或磨損需及時更換。

　　存放探頭和探針時，需確保它們處于干燥、清潔的環境中。

　　4.軟件與系統的維護

　　定期檢查軟件的運行狀態和系統的更新情況。

　　如發現軟件故障或系統異常，需及時聯系廠家或專業人員進行維修和處理。

　　5.存儲環境

　　設備的正常工作溫度應在19°C至25°C之間，相對濕度應保持30%至70%。

　　避免將儀器暴露在惡劣溫度、濕度或電磁干擾的環境中。

　　6.專業維護

　　如需進行更深入的維護或維修，請聯系Park原子力顯微鏡的廠家或專業維護人員進行處理。

　　通過遵循上述使用與維護指導，可以確保Park原子力顯微鏡的穩定運行和長期使用壽命，同時提高測試的準確性和可靠性。