布魯克紅外顯微鏡是一款功能強(qiáng)大的材料表征分析工具，使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，從而在利用原子力顯微鏡（AFM）獲得微區(qū)形貌和表面物理特征的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步幫助用戶全面解析樣品表面納米級(jí)別的化學(xué)信息，開創(chuàng)了納米紅外化學(xué)解析的新領(lǐng)域。由于這款納米紅外儀器具備的超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學(xué)成分成像。
布魯克紅外顯微鏡的使用功能：
基本幾何測(cè)量：測(cè)量點(diǎn)、線、圓、圓弧、矩形、多邊形、橢圓等。
自動(dòng)測(cè)量功能：自動(dòng)尋邊測(cè)量、框選測(cè)量、篩選毛邊自動(dòng)尋邊快速測(cè)量點(diǎn)、線、圓、圓弧等。
組合元素測(cè)量：對(duì)點(diǎn)、線、圓等進(jìn)行組合測(cè)量，可測(cè)量圓心距、圓切線、兩線中線、中心點(diǎn)、垂直距離、角平分線、兩線交點(diǎn)等。
形位誤差測(cè)量：測(cè)量計(jì)算同心度、真圓度、直線度、位置度等形位誤差。
坐標(biāo)系設(shè)定：可對(duì)原始坐標(biāo)平移、坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)，針對(duì)物件進(jìn)行擺正，或重設(shè)新的坐標(biāo)系。
對(duì)比功能：將幾何測(cè)量的工件影像圖形以DXF格式輸出，進(jìn)行對(duì)比測(cè)量；也可分別調(diào)出AUTOCAD的工程圖紙文檔與影像DXF文檔圖形進(jìn)行重疊對(duì)比測(cè)量，從而檢定工件與標(biāo)準(zhǔn)圖紙之間的偏差。
布魯克紅外顯微鏡部件的保養(yǎng)：
1、使用時(shí)要遠(yuǎn)離水或潮濕的地方。
2、注意防塵，可在咨詢專業(yè)人員后采取防塵措施。
3、使用需遠(yuǎn)離熱源。
4、注意電源電壓的標(biāo)稱值，機(jī)器的地線和電源極性。
5、用戶不可自行維修和打開機(jī)體，內(nèi)部電纜零件更換盡量使用原配件。
6、使用時(shí)，如發(fā)現(xiàn)異常情況，先拔掉電源。
7、注意使用后，先使影像儀冷卻。
8、機(jī)器的移動(dòng)要十分注意，運(yùn)輸注意包裝、防震。
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