顯微樣品制樣與分析、電鏡樣品前處理作為微觀研究的關鍵環節，其技術水平在科學研究和生產制造中扮演著越來越重要的角色。5月23日，前沿電鏡制樣研討會在西南交通大學圓滿完成。

會議亮點回顧

本次研討會旨在深入探討樣品檢測的先進技術、顯微觀察的關鍵技巧以及電鏡前處理制樣的優化方法，為不同科研領域的老師同學以及企業技術人員，提供一個交流學習、分享經驗的平臺。

活動開始，由西南交通大學分析測試中心主任鄧亞紅進行開場致辭，對蒞臨會議的專家學者、研究人員和學生表示了衷心的歡迎和感謝。

本次會議分主要為理論專家報告。作為本次會議的主辦方，領拓儀器分別派出了領拓檢測實驗室經理黃曉曄和領拓高級應用工程師張靈柘進行主題報告，分享最新的樣品檢測技術與電鏡樣品制備技術。

黃曉曄 -《跨尺度樣品制備技術:從宏觀切割到納米級拋光》

張靈柘 -《電鏡制樣技術-樣品到電鏡圖像的關鍵》

本次會議，領拓團隊為參觀者提供了技術咨詢和解答，讓其對產品有更深入的了解，進一步了解市場需求和行業動態。現場觀眾對領拓團隊表達了廣泛肯定。期待我們下次會議再會！現場互動


相關設備

01精研一體機 EM TXP

對樣品進行精確定位，定點樣品制備。并對樣品進行銑削、修塊、切割、研磨、拋光及沖鉆等加工，為下一步精細制樣做準備，并可實時顯微觀察。

02三離子束研磨儀 EM TIC 3X

針對硬/軟復合材料，多孔材料，脆性材料及材質不均一性材料，可采用離子束切割拋光技術獲得高質量、真實的平整截面。

03超薄切片機 UC Enuity

可制備納米-微米級厚度切片,滿足從-180°C-室溫超薄切片和半薄切片需求。適用于硬質金屬、軟質材料等樣品自動化操作。

04離子減薄儀 GU-AI9000GU-AI9000

是集多種功能于一身的高真空離子減薄儀，樣品大薄區助力觀察，適用于各種固體樣品進行離子減薄。