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探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統原子力顯微鏡結構上和測樣樣品上的局限性，是*先量產化商品化的，能實現樣品不動，探針移動掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對測樣樣品尺寸、重量的局限性。在適用超大樣品測樣的同時，飛時曼也將樣品臺的可拓展性增強，實現便捷的多儀器聯用原位測樣。更可根據客戶需求，訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡。廣泛應用于半導體材料與石墨烯材料的測樣研究中。