縱橫金鼎LJD-B/LJD-C介電常數及介質損耗測試儀使用方法
一、 介電常數測試方法與步驟
1. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。
3. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平整。
4. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。
1. 再松開兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的測微桿，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量（旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量），使主機處于諧振點（Q值值）上。
2. 取出S916測試夾具中的樣品，這時主機又失去諧振（Q值變?。藭r調節S916測試夾具的測微桿，使主機再回到諧振點（Q值值）上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.
3. 計算被測樣品的介電常數:
Σ＝D2 / D4
二、 介質損耗測試方法與步驟
1. 分布容量的測量
a) 選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；
b) 將調諧電容器調到值附近500P左右，令這個電容是C1，
c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵，使測試回路諧振，諧振時Q的讀數為Q1；
d) 將測試夾具接在“Cx”兩端，放入材料，測出材料厚度后取出材料，調節主調電容，使測試電路重新諧振，此時可變電容器值為C2，Q值讀數為Q2。
機構電容的有效電容為：Cz= C1－C2
分布電容為機構電容CZ和電感分布電容C0（參考電感的技術說明）的和
電容器損耗角正切為
公式里的C0只是電感的分布電容值，不是主機軟件顯示的C0
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。
3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。
5. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節時要用S916測試夾具的，以免夾得過緊或過松），這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2，改變主機上的主調電容容量，使主機處于諧振點（Q值值）上，然后按一次 主機上的小數點（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x，記住厚度D2的值。
6. 取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時主機又失去諧振（Q值變?。?，再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處于諧振點（Q值值）上。
7. 第二次按下 主機上的小數點（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時顯示介質損耗系數tn =．x x x x x ，即完成測試。
8. 出錯提示，當出現tn = NO 顯示時，說明測試時出現了差錯，發生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
附錄 一
LKI-1電感組
LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個，凡儀器在進行測試線圈的分布電容量，電容器的電容量，高頻介質損耗，高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時，必須用電感組作輔助工具。
本電感組有較高Q值，能使儀器測量時得到尖銳諧振點，因而增加其測量的準確度，各電感的有關數據如下表：
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數測試頻率 |
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 180 | 5pF | 20~70 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 180 | 6pF | 1~3.75 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 190 | 6pF | 0.75~2.64 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 80 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.1MH |
附錄 二
一、如何測試帶粘性超薄絕緣材料的介電常數
1 用錫箔紙覆膠在材料的兩面，上下層錫箔紙不能接觸。錫箔紙厚度為DX;(材料大小要和測試電極大小基本一致)
2 超薄材料需要疊加：疊加方式如下
250μ貼合6層后測試；
200μ貼合8層后測試；
175μ貼合9層后測試；
125μ貼合12層后測試；
100μ貼合15層后測試；
75μ貼合20層后測試；
50μ貼合30層后測試。
3 計算公式
Σ＝(D2-2*DX)/D4
4 介質損耗系數測試同理
8
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