汽車工業現在會通過一系列裝飾或功能性處理改善車身表面。然而，用于檢測多層樣本的傳統質控方法不僅耗時，而且還會漏檢缺陷。結定位表面研磨系統和光學顯微鏡的新方法有望提高檢測的速度和可靠性。
安美特西班牙實驗室經理F. Javier Ruiz Balbas講述了自己使用這一系統的體驗。安美特是一家獨步全球的供應商，專為印刷電路板、先進包裝和半導體制造以及裝飾性和功能性表面處理提供特種化學藥品、設備、服務和解決方案。
您能簡單介紹下質控部門的工作流程嗎？
Ruiz Balbas：安美特西班牙質控部門的工作流程主要是接收存在已知缺陷的部件。我們首先要通過金相制樣對缺陷進行序列分析，例如切割和拋光環節，然后再執行后續的檢測工作。樣本制備好后，我們會使用光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡執行檢測。我們的工作主要是金相檢驗和測量，多圍繞沉淀金屬中產生的表面缺陷，例如銅、鎳、鉻、鋅、金等。
您工作中的主要挑戰是什么？
Ruiz Balbas：最大的挑戰是如何在最短的時間內獲得盡可能多的缺陷信息。
圖：黃銅鎳/鎳/鉻鍍層頂部的半光亮鎳、光亮鎳和鉻鍍層。樣本使用徠卡EMTXP制備。照片：安美特西班牙
圖：ABS塑料上的銅涂層上的半光亮鎳和光亮鎳涂層。照片：安美特西班牙
隨著新材料的發展，汽車工業中對質控的要求有哪些變化？
Ruiz Balbas：可持續性已經成為汽車工業各環節都必須滿足的一項要求。也就是說，我們不僅要確保產品中不含致癌、致突變或生殖毒性物質（CMR），優化物理化學屬性，還要減少碳排放。為此，十多年來，安美特一直堅持將我們年收入額的10%投入研發和材料科學領域。因此，我們也一直是汽車工業的主要表面處理合作伙伴。
您公司的質控部門有哪些優勢呢？
Ruiz Balbas：我們的優勢主要在于我們在金相技術領域擁有豐富經驗。
在使用徠卡EM TXP/DM2700 M系統之前，工作流程是怎樣的？有哪些不足之處？
Ruiz Balbas：傳統的樣本制備方法很難發現細微的缺陷和問題。在很多情況下，人工操作因素，例如移動或樣本制備，都會導致飾面發生變化；或者在某些情況下，磨削-拋光過程還會導致樣本傾斜。移動樣本的過程中，還需要很多的輔助性支持材料，例如使用樹脂包覆樣本。
使用徠卡EM TXP表面定位研磨制備系統，在材料切割和拋光過程中，我們可以通過可控的步驟序列實現漸進式操作。我們可以針對目標細增加想要的微米數量。可控的切割-拋光遞增量可以從0.5微米到100微米的范圍內自由選擇。在此之前，我們根本無法可視化表面外觀或缺陷輪廓上確切的橫截面。
現在使用徠卡EM TXP/DM2700 M后，從橫截面開始到制備再到完成，利用一體式立體顯微鏡，我們可以從不同角度觀察樣本，實現表面外觀和橫截面的可視化。
您在日常工作中已經積累了一些操作徠卡EM TXP/DM2700 M的經驗，那么您對它有什么概括性的總結呢？系統的哪些優勢對您的質控工作幫助最大？
Ruiz Balbas：它操作起來靈活、自由，可以在短時間內獲得高質量結果。它能確保樣本制備方法的一致性和可重復性，進而保證樣本分析準確無誤。
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