膜厚分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型：
1、磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高
2、渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低
3、超聲波測(cè)厚法：目前國(guó)內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，個(gè)別有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合。
4、電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測(cè)量起來較其他幾種麻煩。
膜厚分析儀的性能特點(diǎn)：
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；
小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小；
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度；
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；
良好的射線屏蔽作用；
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
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