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本公司研發光伏組件測試系統 PID（ZWPID08）根據 IEC 82/685/NP：System voltage durability test for crystalline silicon modules，基本要求是準備 3 塊組件。其中一塊作為控制組件，組件置于一定 溫度和濕度的環境中，將組件的內部導電體與高壓電源的一個極連在一起，組件外導電體與高壓電源的另 一極連在一起。一塊組件在正偏壓下進行老化，一塊組件在負偏壓下老化
測試條件如下：
環境溫度：60℃±2℃；
環境濕度：85%±5% RH；
測試時間：96 小時；
測試電壓：在組件需滿足的正系統電壓下或負系統電壓下。
技術參數 ：
1 高壓電源（正向）
電壓：
? 測試范圍：0-1500V；
? 測試精度：0.5%FS
? 分辨率：1V
電流：
? 測試范圍：0-1000uA；
? 測試精度：0.5%FS
2 高壓電源（負向）
電壓：
? 測試范圍：0--1500V；
? 測試精度：0.5%FS
? 分辨率：1V 電流：
? 測試范圍：0-1000uA；
? 測試精度：0.5%FS
? 分辨率： 1uA
? 分辨率： 1uA
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