圖1：Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，右側有紫外線照射源，樣品倉中有可加熱的ATR附件；

圖1所示為VERTEX80光譜儀，樣品倉中帶有可加熱ATR附件，外部紫外線源的光纖通過ATR附件上的可調支架固定。另外，Bruker的鉑金ATR，即單次反射的金剛石ATR，它也可以用于測試遠紅外范圍。

圖2：紫外輻照Bruker VERTEX 80 FTIR光譜儀，光源位于右側，樣品倉內透射附件；

除ATR技術外，透射技術也可作為分析工具。Bruker光學透射附件A043-N/Q，其帶有水平樣品支架，如圖2所示。樣品支架的高度可以調整，紫外線光纖支架的高度也可以調整。

OPUS光譜學軟件用于數據采集，附加軟件包OPUS/3D用于數據可視化和數據評估。圖3顯示了OPUS軟件中用于顯示時間分辨測量數據的3D圖。

圖3：OPUS光譜學軟件中時間分辨快速掃描測量結果。左上角區域顯示了FTIR光譜在反應時間過程中的變化，如3D圖所示。右上角的區域顯示了FTIR光譜中C-O和C-H鍵的峰值高度與時間的關系，用于監控反應速率。右下角區域顯示了FTIR光譜圖。

圖4：C=C雙鍵處的C-O-C基團（綠色曲線）以及C-H基團（粉色曲線）的強度隨時間的變化

圖5：快速掃描測量FTIR光譜

圖6：Platinum ATR附件中的單片金剛石

示例2：失效分析

膠水的質量不過關通常會導致產品意外失效。因此，在粘合劑質量控制中，失效分析具有很大的挑戰性。

顆粒和其他污染物進入生產過程會破壞粘合效果。如果發生這樣的問題，紅外顯微鏡將大有助益。圖7顯示了使用Bruker的LUMOS II對粘合劑層內未知污染顆粒進行的分析。使用簡單易學的OPUS軟件可快速顯示粘合劑層和污染物的光譜。通過將所測譜圖與數據庫進行比較，可以輕松地識別出污染物。

圖7：左：固化粘合劑的譜（藍）和顆粒污染物的譜（紅）；右：在粘合劑層的可視顯微圖像上疊加的化學圖像。

圖8：Bruker LUMOS II 顯微紅外光譜儀

總而言之，布魯克的傅立葉變換紅外設備非常適用于分析各種粘合劑。在本文中，我們展示了如何找出潛在缺陷和研究紫外線（UV）固化動力學。借助我們易用的技術和創新軟件，您必定能夠強化與客戶的“粘接"。

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