在許多應(yīng)用領(lǐng)域，如可再生能源（光伏或氫氣技術(shù)）、航空航天和電子領(lǐng)域，半導(dǎo)體（尤其是硅）是不可少的基礎(chǔ)材料。為了保證高效率和產(chǎn)品質(zhì)量，以雜質(zhì)的識(shí)別和定量、缺陷的檢測或光學(xué)器件的功能測試為形式的硅質(zhì)量控制成為半導(dǎo)體工業(yè)中一項(xiàng)關(guān)鍵而艱巨的任務(wù)。

     該系列網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)分為兩部分，在下周的第二場中，我們將向您介紹使用傅立葉變換紅外光譜進(jìn)行半導(dǎo)體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，歡迎屆時(shí)參加。

主題：

High sensitivity Silicon QC using FT-IR Spectroscopy

語言：英文（English）

時(shí)間：

第二場：6月21日（周一） 晚上10點(diǎn)-11點(diǎn)

第二場（重播）： 6月22日（周二）下午3點(diǎn)-4點(diǎn)

（*以上為北京時(shí)間）

會(huì)議使用GOTOWEBINAR平臺(tái)，由布魯克德國紅外應(yīng)用專家主講。