日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列

一種便攜式膜厚計，可以容易地提高麻煩的膜厚測量的生產效率。

QNIx系列產品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量膜厚，而無需攜帶厚膜厚計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數據傳輸到個人計算機，也有助于防止測量過程中掉落事故。

QNIx系列功能

無需校準薄膜即可進行精que的薄膜厚度測量

提供出廠時輸入的16點校準數據。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精que的薄膜厚度測量。

膜厚測量數據傳輸的新技術

在傳統的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數據。QNIx系列使用“無線加mi狗”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數據。

超輕便的無線測量儀

探頭測得的數據被無線發送到主機。也減少了被電纜夾住或像常規產品一樣妨礙并導致墜落事故的風險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使在極少數的故障情況下，拆卸和維修也很容易，因此可以縮短維修時間。此外，它配備了紅寶石芯片，因此您可以安全地測量樣品而不會損壞它。

QNIx系列比較規格表

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系統	QNIx方便
可測量的電影	[F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層			[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度
材料識別	黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換	黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換	用戶的轉換	黑色金屬和有色金屬的 自動識別和交換	鐵/有色金屬自動識別模式轉換
測量原理	[F]磁通量（霍爾效應） [N]渦流
測量范圍	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0至3,000μm	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0?5,000微米	0?500微米
gao 分辨率	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點校正 用戶校準：1 [M] 100	0點校正	0點校正	沒有校準功能	沒有校準功能
準確性	±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） [T] ± （0.3μm+ 2％）	±（2μm+ 3％）	±（1μm+ 3％）	±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上）	±（10微米+ 5％）
測量速度	1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）

便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量

[N]有色金屬材料的非導電膜厚度測量

[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬的厚度

[T]微型探針

[M]測量數據存儲功能，數據傳輸到PC