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日本snk表面附著異物可視化技術(shù)
閱讀：117 發(fā)布時間：2021-1-6| 提 供 商 | 秋山科技（東莞）有限公司 | 資料大小 | 21.4KB |
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日本snk表面附著異物可視化技術(shù)
細顆粒可視化技術(shù)可用于以高靈敏度檢測光滑表面上的顆粒。另外，通過可視化由顆粒成分引起的熒光，可以每天處理表面異物和污垢。
如何使用散射光
高靈敏度細顆粒可視化技術(shù)是一種捕獲移動的細顆粒的散射光的技術(shù)。使用相同的原理，可以高靈敏度地移動產(chǎn)品時檢測表面上的異物和微弱的散射光。當(dāng)使用激光時，它只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品，但是即使在施加張力的位置（例如薄膜），也可以通過可視化檢測到。
如何一起使用熒光
附著在表面的異物和污垢可能會使從該組件發(fā)出的熒光返回。為了澄清熒光色，有必要設(shè)計要照射的光，但是如果使用特殊的濾光片將散射光截斷，則表面上的異物將非常鮮艷并且易于觀察。無論表面光滑度如何，此方法都可以在光線到達時可視化。可以免費租用“ D Light”（約2天）。請借此機會嘗試一下。