產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設(shè)備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

LED太陽光模擬器 AAA+級雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設(shè)備載流子擴散長度測試系統(tǒng)
薄膜性能測試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測試儀薄膜熱應(yīng)力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng) kSA BandiT實時襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡

電化學(xué)反應(yīng)共聚焦系統(tǒng) 三維光學(xué)共聚焦顯微鏡三維表面輪廓儀
激光光束質(zhì)量分析儀

激光質(zhì)量分析儀 UV光束分析儀 Shack-Hartmann波前傳感器 EUV/XUV波前傳感器波前曲率傳感器光熱弱吸收測量儀高功率激光材料測試儀大光斑激光光束分析儀高功率激光光束分析儀激光光束分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對卷涂布系統(tǒng) 涂布機
微納米加工設(shè)備

桌面型激光直寫系統(tǒng) 臺式無掩膜光刻系統(tǒng) 納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測試設(shè)備

電卡效應(yīng)測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

高效頂發(fā)射藍光OLED覆蓋層厚度優(yōu)化與薄膜金屬電極的相關(guān)性

閱讀：1547 發(fā)布時間：2022/12/30

主要內(nèi)容

在設(shè)計有機發(fā)光二極管(OLED)的光學(xué)結(jié)構(gòu)時，考慮了組成有機發(fā)光二極管(OLED)材料的光學(xué)特性。由于頂發(fā)射OLED中存在微腔效應(yīng)，因此光學(xué)設(shè)計與OLED器件的效率、發(fā)射光譜和色標等光學(xué)特性有關(guān)。

在本文中，通過調(diào)整薄金屬層和覆蓋層（CPL）的厚度，優(yōu)化了頂發(fā)射藍光OLED的性能。在具有第二腔長的OLED結(jié)構(gòu)中實現(xiàn)了深藍發(fā)射，即使在薄金屬層的透光率很高時也是如此。適用于具有第二微腔結(jié)構(gòu)的OLED金屬薄膜厚度范圍很廣。相反，薄金屬層的厚度決定了CPL的優(yōu)化厚度，以實現(xiàn)高效率。

更薄的金屬層意味著在具有第二微腔結(jié)構(gòu)的OLED器件中可以獲得更高的效率。此外，具有較薄金屬層的OLED顯示出較少的顏色變化作為視角的函數(shù)。

文中使用我公司的仿真軟件Setfos執(zhí)行光學(xué)仿真并優(yōu)化OLED堆棧設(shè)計。

產(chǎn)品推薦-Setfos模擬仿真軟件

Setfos用于各種類型太陽能電池（包括鈣鈦礦、有機、疊層、硅基電池等）、鈣鈦礦LED、OLED器件及相關(guān)光電材料性能的仿真系統(tǒng)，對器件設(shè)計、構(gòu)建、光學(xué)性能、電學(xué)性能以及光電材料的性能進行模擬計算和優(yōu)化。（點擊訪問）

文獻信息

Correlation between optimized thicknesses of capping layer and thin metal electrode for efficient top-emitting blue organic light-emitting diodes

Hyunsu Cho, Chul Woong Joo, Byoung-Hwa Kwon, Chan-mo Kang, Sukyung Choi, Jin Wook Sin

產(chǎn)品咨詢及購買請聯(lián)系我們

南京大學(xué)譚海仁團隊AM：效率達28.6%的

怎么用太陽光模擬器？

產(chǎn)品分類 品牌分類

高效頂發(fā)射藍光OLED覆蓋層厚度優(yōu)化與薄膜金屬電極的相關(guān)性

Correlation between optimized thicknesses of capping layer and thin metal electrode for efficient top-emitting blue organic light-emitting diodes

會員登錄

收藏該商鋪

提示

收藏該商鋪

主營產(chǎn)品

擁有網(wǎng)站

聯(lián)系方式