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產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設備

光催化專用太陽光模擬器高準直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

LED太陽光模擬器 AAA+級雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設備載流子擴散長度測試系統(tǒng)
薄膜性能測試設備

薄膜應力測試儀薄膜熱應力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應力儀電池電極應力測試系統(tǒng) 薄膜應力測量系統(tǒng) 原位薄膜應力測試儀薄膜應力測試系統(tǒng) kSA BandiT實時襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應力測量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡

電化學反應共聚焦系統(tǒng) 三維光學共聚焦顯微鏡三維表面輪廓儀
激光光束質(zhì)量分析儀

激光質(zhì)量分析儀 UV光束分析儀 Shack-Hartmann波前傳感器 EUV/XUV波前傳感器波前曲率傳感器光熱弱吸收測量儀高功率激光材料測試儀大光斑激光光束分析儀高功率激光光束分析儀激光光束分析儀
納米材料制備設備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對卷涂布系統(tǒng) 涂布機
微納米加工設備

桌面型激光直寫系統(tǒng) 臺式無掩膜光刻系統(tǒng) 納米壓印系統(tǒng)
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電卡效應測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
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高溫介電測試系統(tǒng)的功能介紹

閱讀：912 發(fā)布時間：2024/6/18

高溫介電測試系統(tǒng)是一種能夠在高溫條件下對材料的介電性能進行測試與分析的儀器。它結合了高溫恒溫器與介電橋等關鍵技術，通過測試電容與電感在不同溫度下的變化，來確定高溫下介電性質(zhì)的變化規(guī)律。該設備是科研實驗室新材料的開發(fā)和研究、生產(chǎn)質(zhì)量控制和生產(chǎn)工藝優(yōu)化的重要工具。

高溫介電測試系統(tǒng)的主要功能：

1、阻抗分析測試：系統(tǒng)能夠測量材料的阻抗參數(shù)，包括電阻、電感等。

2、電壓擊穿測試：在高溫環(huán)境下，對材料進行電壓擊穿測試，以評估其耐壓性能。

3、高溫測試平臺：提供穩(wěn)定的高溫環(huán)境，以滿足材料在高溫下的介電性能測試需求。

4、制樣裝置：用于制備符合測試要求的樣品，確保測試結果的準確性。

本公司提供的polyk高溫介電測試系統(tǒng)部分參數(shù)如下：

1、靈敏度：介電損耗因子tand<0.1%

2、多樣品測試：一次溫控過程中，可自動切換測試多達4個樣品

3、高溫鉑片接地電極

4、彈性鉑探針，壓力可調(diào)（以保護軟polymer樣品）

5、DC電壓: up to 4000V(based on request)

6、電流分辨：達到pA(10e-12A)量級