先進的納米顆粒測量系統

Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是先進的納米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準確可靠的粒徑分析和計數功能，而且高達256原始通道能夠實現高粒徑分辨率。SMPS全系列多組合滿足不同濃度、粒徑分布范圍氣溶膠分析需求；桌面式簡便操作，易上手；連接方便，可靈活搭載各種預處理裝置（如稀釋裝置等）；開放式數據文件，讀取和分析便捷；可實現自檢測和校準；*兼容性和靈活性，可以跟市場主流計數器兼容等。

U-SMPS 2050X/2100X/2200X

Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經集成了 X 射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas®U-SMPS 系統包括一個分類器 [ 在 ISO15900 中定義為電遷移率分級器（DEMC），也稱為微分遷移率分析儀（DMA）]，可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數器（例如 UF-CPC）對這些顆粒進行計數。三種可用的 UF-CPC 型號可在各種濃度范圍內實現優異的單顆粒計數。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德國）開發的演算算法，將測量數據轉化為 U-SMPS 的顆粒分布。

U-SMPS 使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短 30 秒之內執行，并且每十進制多達 64 個尺寸通道。在掃描期間，DEMC 分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上設置線性或對數顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數據評估（各種統計和平均值），以及導出功能。U-SMPS 通常作為獨立設備運行，但也可以連接到計算機或使用各種接口（USB， LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接網絡。 Palas®U-SMPS 支持 DMA，CPC 和其他制造商的氣溶膠靜電計。 U-SMPS 對顆粒物準確的尺寸確定和可靠性能極其重要，尤其是對于校準來說。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并且必須內部組裝。

產品優勢

• 粒徑分布范圍為 4nm 至 1.2μm；

• 連續快速掃描測量原理；

• 高分辨率，多 128 個尺寸通道 / 十進制；

• 適用于高達 10^8 顆粒 / cm^3 的濃度；

• 跟其他制造商的 DMA 和納米顆粒計數器通用；

• 圖形顯示測量結果；

• 7 英寸觸摸屏和 GUI 直觀操作；

• 內置數據記錄儀；

• 支持多種接口和遠程訪問；

• 低維護；

• 功能可靠；

• 減少您的運營費用

典型應用

• 過濾測試；

• 氣溶膠研究；

• 環境與氣候研究；

• 吸入實驗；

• 室內和工作場所測量

Palas®中國將定期安排針對SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀、MFP系列濾料過濾效率測試臺、PMFT口罩過濾效率測試臺、Promo®氣溶膠光譜儀、氣溶膠發生器和稀釋系統，以及Fidas®和AQ Guard空氣顆粒物濃度監測儀、HMT測試系統等解決方案的在線中英文網絡研討會，歡迎您注冊參會，盡快時間獲悉在線研討會信息！

打開手機掃一掃，立即注冊參會

作為氣溶膠測量技術的專家，Palas®將其在顆粒和過濾技術領域制定安全標準的長期專業知識帶入了中國，將其*的技術集成在高精度和認證儀器中，可用于生產和表征空氣中的顆粒。除此之外，還將開展培訓課程和研討會來傳遞專業知識。2020年7月，Palas®中國在上海成立運營，以更好地服務于亞洲市場。Palas®不僅將德國品質帶入中國，而且還滿足您進行安全可靠測試所需的所有相關規范和標準。作為一家通過ISO 9001：2015質量管理體系認證的公司，Palas®的解決方案符合歐洲標準（EN）、美國國家職業安全衛生研究所標準（NIOSH）、以及中國GB2626口罩檢測標準。

帕剌斯儀器（上海）有限公司

地址：上海市松江區順慶路650號6幢5樓 201612