便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀‍

X射線光譜現場分析技術是采用現場X射線光譜儀在采樣現場對待測目標體中元素進行快速地定性和定量分析技術, 又稱為現場X射線熒光礦石分析儀。 根據現場分析的應用場景與采樣方法, X射線光譜現場分析可分為X射線光譜現場原位分析和X射線光譜現場取樣分析。 現場原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測物料的表面, 在現場原生條件下獲取待測目標體中元素種類和元素含量的分析方法; 現場取樣分析是指對待測目標體進行樣品采集, 甚至于對樣品進行初步的加工和處理, 在現場工作條件下應用X射線光譜儀獲取待測目標體中元素種類和元素含量的分析方法。

礦石實驗室分測試析的對象和任務要求分析測試方法具有檢出限低、檢測范圍寬、較高的準確度和精密度。地球化學樣品的成分分析方法有傳統的化學分析法、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)、電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)、原子吸收光譜(AAS)、X射線熒光光譜(XRF)法等。化學分析法雖然使用儀器簡單，但對操作技術的要求高、操作比較繁瑣，使用大量的酸堿等化學試劑，分析流程較長，很難滿足日常生產的需求。同樣ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光譜法在樣品前處理過程中也常用大量化學試劑，造成環(huán)境污染。基于X射線熒光光譜法的礦石成分分析儀Compass300具有樣品前處理簡單、分析周期短、重現性好、可同時測定多元素、測試成本低等優(yōu)點。

Compass 300能量色散X射線熒光(EDXRF)基于臺式機的設計平臺，其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀，比一般便攜式設備測試效果更穩(wěn)定，更出眾。配備了*SDD檢測器， 同時實現了高分辨率，高計數率CPS和高靈敏度，從而達到實驗室級別的測試效果。

•Compass 300配備的SDD檢測器優(yōu)勢

>高分辨率：通常優(yōu)于130ev，降低相鄰元素干擾，并提高輕元素檢測效果

>高計數率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的強度，只要普通Si Pin檢測器的0.2~0.05倍的時間，即Si Pin在設定分析時間為100秒的話，對SDD而言，得到相同的強度，只需5~20秒

>高靈敏度：靈敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素檢測下限

•便攜，堅固，緊湊的設計，輕松實現現場高精度樣品無損檢測

•可分析各種樣品形態(tài)：包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進行無損檢測

•一鍵測試，一鍵打印報告

•可選配大容量電池，無需外部供電情況下可實現長時間工作

應用領域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現場快速分析，可廣泛應用于普查、詳查的各個過程，追蹤礦化異常，擴展勘查范圍。可大大減少送回實驗室樣品的數量，從而節(jié)約運輸和分析費用

>巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲量，可大大提高鉆探現場及時決策效率

>開采過程控制

礦體邊界圈定，礦脈走向判定，對開采過程進行精確管理和控制，對礦石品位進行隨時檢測

>品位控制

對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進行精確快速分析，為礦物貿易、加工以及再利用提供價值判斷依據

>環(huán)境分析

快速對礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進行分析與檢測，評估礦石環(huán)境修復效果

>石油化工：燃料，潤滑油，添加劑中的硫元素分析，磨損金屬分析

>刑偵及公安：證據分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

技術參數