XRF測(cè)金儀EDX8000 MAX可以檢測(cè)到黃金純度和K值嗎？

EDX-8000 Max測(cè)金儀

SDD貴金屬珠寶檢測(cè)儀

黃金測(cè)試專(zhuān)家

>高計(jì)數(shù)率高分辨率SDD檢測(cè)器

>超大樣品腔

>ppm級(jí)別測(cè)試精度，準(zhǔn)確測(cè)定金和所有貴金屬（銀，鉑，鈀，銠，銥和釕）的含量

>最快10秒出結(jié)果

>非破壞性分析可保護(hù)貴重珠寶，古董和收藏品

>一鍵測(cè)試，快速上手

>可拓展應(yīng)用方案---鍍層和電鍍液分析

XRF測(cè)金儀EDX8000MAX可以無(wú)損地分析金，銀和鉑族金屬，以及非貴重合金金屬，污染物和鍍金。 XRF甚至可以用于識(shí)別某些假寶石，例如立方氧化鋯，鈦礦和含鉛玻璃。

產(chǎn)品特點(diǎn) ：

•更快---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量，使得測(cè)量時(shí)間大幅減少。60秒即可達(dá)到普通儀器120秒的測(cè)量效果

•更準(zhǔn)---多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證優(yōu)秀的光譜分辨率，通常優(yōu)于130 eV（普通Si-pin探測(cè)器為160eV），以更好地分離不同元素的光譜。

•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測(cè)器(普通Si-pin檢測(cè)器6mm2),該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測(cè)器的光譜強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率CPS），從而得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Si-pin版本臺(tái)式儀器相比，EDX8000 Max光譜儀可以全功率運(yùn)行，因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測(cè)試表現(xiàn)