原位掃描電鏡可對金屬、陶瓷、巖石等材料以及各種固體材料的微觀形貌觀察和微區元素成分、線分布、面分布等分析納米技術、材料、物理、化學、環境科學等領域。觀察納米材料
所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內，在保持掃描電鏡表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。納米材料具有許多與晶體、非晶態不同的、物理化學性質。納米材料有著廣闊的發展前景，將成為未來材料研究的重要方向。sem掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率。現已廣泛用于觀察納米材料。
材料斷口的分析
掃描電鏡的另一個重要特點是景深大,圖象富立體感。sem掃描電鏡的焦深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。由于圖象景深大,故所得掃描電子象富有立體感，具有三維形態，能夠提供比其他顯微鏡多得多的信息，這個特點對使用者很有價值。掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現材料斷裂的本質,在教學、科研和生產中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。
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