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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位多場耦合樣品桿 是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，借助該系統，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括光、電、力、熱等），從而對材料或者器件等不同類型樣品實現多重激勵下的原位表征。
具備多種耦合方式：力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱
技術指標
| 電學測量 | 加熱控溫 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.溫度范圍：室溫至1000℃； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.溫度準確度：優于5%； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.控溫穩定性：優于±0.1℃； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4..軟件控制，數據自動保存。 |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t |
透射電子顯微鏡內不同溫度下的原位充放電研究
In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures
doi: 10.1002/smll.202001899
| 力學操縱 | 光纖指標 |
| 1.探針粗細調方式：全軟件操控； | 1.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選； |
| 2.粗調范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm； | 2.光纖快拆接口：SMA、FC等； |
| 3.細調范圍：XY方向18um，Z方向1.5um； | 3.可外接光源； |
| 4.4.細調分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm； | 4.可外接光譜儀； |
產品選型
原位多場耦合樣品桿 具有單傾、雙傾（JEOL）兩個版本；
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，支持定制。
國內部分用戶
典型案例
1、加熱芯片+電學探針-------＞透射電鏡內的原位加熱電學實驗；
2、加熱芯片+力學探針-------＞透射電鏡內的原位高溫力學實驗；
3、電學芯片+電學探針-------＞透射電鏡內的三端器件測量實驗；
4、電學芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內的電制發光現象研究；
5、電學芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內的原位光電現象研究。
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