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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，同時集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量及光譜學分析，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
技術指標
| 電學測量 | 光纖指標 |
| 1.包含一個電流電壓測試單元； | 1.芯徑可選，外徑250um； |
| 2.電流測量范圍：1nA-30mA； | 2.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選； |
| 3.電流分辨率：100fA； | 3.光纖快拆接口：SMA、FC等； |
| 4.電壓輸出范圍：±10V，±150V； | 4.光源可選：4波段半導體激光器、波長連續可調氙燈光源； |
| 5.軟件自動測量：I-V、I-t | 5.光譜儀：根據用戶具體需求匹配 |
Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopy
doi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796
Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679
產品選型
原位光學樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實際實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號光學樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
國內部分用戶
典型案例
1、透射電鏡內的原位光電測量實驗；
2、透射電鏡內的陰極發光（CL）實驗；
3、透射電鏡內的原位電致發光譜實驗。
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